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电镜分析中SEM:二次电子像,背散射电子的高、低电压高分辨成像 ;EDS:点分析、线扫描、面分布;检测

  • 样品名称:电镜分析

  • 检测项目:SEM:二次电子像,背散射电子的高、低电压高分辨成像 ;EDS:点分析、线扫描、面分布;

  • 认可资质:其它

  • 检测标准:GB/T25189-2010 微束分析 扫描电镜能谱仪定量分析参数的测定方法

  • 服务地点:北京市

  • 适用范围:材料分析

  • 标签: 电镜分析 SEM:二次电子像,背散射电子的高、低电压高分辨成像 ;EDS:点分析、线扫描、面分布; GB/T25189-2010 微束分析 扫描电镜能谱仪定量分析参数的测定方法

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