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半导体集成电路中密封 细检漏检测

  • 样品名称:半导体集成电路

  • 检测项目:密封 细检漏

  • 认可资质:CNAS

  • 检测标准:半导体器件 集成电路 第11部分:半导体集成电路分规范(不包括混合电路) GB/T 12750-2006 idt IEC 60748-11:1990

  • 服务地点:全国

  • 适用范围:电子电气

  • 标签: 半导体集成电路 密封 细检漏 半导体器件 集成电路 第11部分:半导体集成电路分规范(不包括混合电路) GB/T 12750-2006 idt IEC 60748-11:1990

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