国家电子电器产品检测中心
刘工
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样品名称：半导体集成电路
检测项目：密封 粗检漏
认可资质：CNAS
检测标准：半导体器件 集成电路 第11部分:半导体集成电路分规范(不包括混合电路) GB/T 12750-2006 idt IEC 60748-11:1990
服务地点：全国
适用范围：电子电气
标签： 半导体集成电路 密封 粗检漏 半导体器件 集成电路 第11部分:半导体集成电路分规范(不包括混合电路) GB/T 12750-2006 idt IEC 60748-11:1990
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