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多层瓷介(独石)电容器DPA分析中引出端强度检测

  • 样品名称:多层瓷介(独石)电容器DPA分析

  • 检测项目:引出端强度

  • 认可资质:CNAS

  • 检测标准:军用电子元器件破坏性物理分析方法GJB 4027A-2006电子、电磁和机电元器件破坏性物理分析MIL-STD-1580B:2003电子及电气元件试验方法GJB 360B-2009

  • 服务地点:全国

  • 适用范围:电子电气

  • 标签: 多层瓷介(独石)电容器DPA分析 引出端强度 军用电子元器件破坏性物理分析方法GJB 4027A-2006电子、电磁和机电元器件破坏性物理分析MIL-STD-1580B:2003电子及电气元件试验方法GJB 360B-2009

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