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通用电子元器件(破坏性物理分析)中密封检测

  • 样品名称:通用电子元器件(破坏性物理分析)

  • 检测项目:密封

  • 认可资质:其它

  • 检测标准:军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 工作项目0101-2.3、0106-2.4、0204-2.3、0205-2.3、0206-2.3、0207-2.4、0209-2.3、0401-2.3、0501-2.3、0601-2.4、07

  • 服务地点:全国

  • 适用范围:电子电气

  • 标签: 通用电子元器件(破坏性物理分析) 密封 军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 工作项目0101-2.3、0106-2.4、0204-2.3、0205-2.3、0206-2.3、0207-2.4、0209-2.3、0401-2.3、0501-2.3、0601-2.4、07

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