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集成电路-MCU 芯片中高温读写+保存数据退化检测检测

  • 样品名称:集成电路-MCU 芯片

  • 检测项目:高温读写+保存数据退化检测

  • 认可资质:其它

  • 检测标准:T/CIE073-2027 工业级高可靠集成电路评价 第 8 部分: MCU 芯片

  • 服务地点:全国

  • 适用范围:电子电气

  • 标签: 集成电路-MCU 芯片 高温读写+保存数据退化检测 T/CIE073-2027 工业级高可靠集成电路评价 第 8 部分: MCU 芯片

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