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军用电子元器件(破坏性物理分析)中X射线检查检测

  • 样品名称:军用电子元器件(破坏性物理分析)

  • 检测项目:X射线检查

  • 认可资质:其它

  • 检测标准:GJB128A-1997 半导体分立器件试验方法

  • 服务地点:全国

  • 适用范围:电子电气

  • 标签: 军用电子元器件(破坏性物理分析) X射线检查 GJB128A-1997 半导体分立器件试验方法

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