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集成芯片中辐射抗扰度 - IC带状线法检测

  • 样品名称:集成芯片

  • 检测项目:辐射抗扰度 - IC带状线法

  • 认可资质:其它

  • 检测标准:集成电路电磁抗扰度 第8部分:辐射扰度测量- IC 带状线法 IEC 62132-8:2012 全条款

  • 服务地点:全国

  • 适用范围:电子电气

  • 标签: 集成芯片 辐射抗扰度 - IC带状线法 集成电路电磁抗扰度 第8部分:辐射扰度测量- IC 带状线法 IEC 62132-8:2012 全条款

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