国家电子电器产品检测中心
刘工
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样品名称:半导体集成电路MOS随机存储器
检测项目:输出高电平电压 VOH
认可资质:其它
检测标准:《半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理》 SJ/T 10739-1996 2.1
服务地点:全国
适用范围:电子电气
标签: 半导体集成电路MOS随机存储器 输出高电平电压 VOH 《半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理》 SJ/T 10739-1996 2.1
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