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半导体集成电路MOS随机存储器中维持状态时 VDD 电源电流 IDDS检测

  • 样品名称:半导体集成电路MOS随机存储器

  • 检测项目:维持状态时 VDD 电源电流 IDDS

  • 认可资质:其它

  • 检测标准:《半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理》 SJ/T 10739-1996 2.9

  • 服务地点:全国

  • 适用范围:电子电气

  • 标签: 半导体集成电路MOS随机存储器 维持状态时 VDD 电源电流 IDDS 《半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理》 SJ/T 10739-1996 2.9

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