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半导体集成电路模拟开关中输入低电平电流 IIL检测

  • 样品名称:半导体集成电路模拟开关

  • 检测项目:输入低电平电流 IIL

  • 认可资质:其它

  • 检测标准:《半导体器件集成电路 第2部分:数字集成电路》 GB/T 17574-1998 第IV篇 第2节2

  • 服务地点:全国

  • 适用范围:电子电气

  • 标签: 半导体集成电路模拟开关 输入低电平电流 IIL 《半导体器件集成电路 第2部分:数字集成电路》 GB/T 17574-1998 第IV篇 第2节2

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