国家电子电器产品检测中心
刘工
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样品名称:半导体器件
检测项目:QE-01 热冲击试验(TST)
认可资质:其它
检测标准:半导体器件 - 机械和气候测试方法 - 第 25 部分:温度循环 IEC 60749-25:2003
服务地点:全国
适用范围:电子电气
标签: 半导体器件 QE-01 热冲击试验(TST) 半导体器件 - 机械和气候测试方法 - 第 25 部分:温度循环 IEC 60749-25:2003
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