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半导体器件中QE-01 热冲击试验(TST)检测

  • 样品名称:半导体器件

  • 检测项目:QE-01 热冲击试验(TST)

  • 认可资质:其它

  • 检测标准:半导体器件 - 机械和气候测试方法 - 第 25 部分:温度循环 IEC 60749-25:2003

  • 服务地点:全国

  • 适用范围:电子电气

  • 标签: 半导体器件 QE-01 热冲击试验(TST) 半导体器件 - 机械和气候测试方法 - 第 25 部分:温度循环 IEC 60749-25:2003

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