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半导体器件中老炼试验检测

  • 样品名称:半导体器件

  • 检测项目:老炼试验

  • 认可资质:其它

  • 检测标准:微电路测试方法标准 MIL-STD-883L-2019 方法1005.11, 1006, 1015.12

  • 服务地点:全国

  • 适用范围:电子电气

  • 标签: 半导体器件 老炼试验 微电路测试方法标准 MIL-STD-883L-2019 方法1005.11, 1006, 1015.12

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