国检中心元器件实验室具备电子元器件非破坏性物理分析、电性能测试、气候环境试验、综合环境应力试验技术能力，包括各类测试、分析、试验仪器和设备50余套，可以满足GJB548、GJB4027、GJB128、GJB360、GJB7243等标准对各类元器件进行元器件筛选、元器件鉴定、DPA、失效分析、电测试、老炼、环境与机械性能试验。
失效分析：
失效分析在产品的可靠性质量保证和提高中发挥着重要作用，在产品研发、生产、使用中都需引入失效分析工作。
中心元器件实验室具备通用非破坏性物理分析和破坏性物理分析相结合的检测手段，能够开展SEM、CT、C-SAM、PIND、X射线检查、密封性、制样镜检、内部目检、元素分析等检测项目，通过检测手段可以找到失效原因，并分析失效机理。
常规检测项目：
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开封 |
外部目检 |
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制样镜检 |
去钝化层 |
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元素分析 |
电源模块 |
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老化试验 |
电性能测试 |
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密封性检查 |
X-射线检查 |
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声学扫描声微镜检查 |
PIN颗粒碰撞噪声检测 |
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SEM扫描电子显微镜检查 |
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独特能力—非破坏性物理分析:
在不破坏被检样品电气性能和保持结构完整的前提下对样品进行检测。可检测到样品内部夹杂物，内部裂纹，分层缺陷，空洞空隙等缺陷，实现筛选有效性评估及电子元器件100%物理缺陷筛选。
具备以晶体晶振为代表的频率器件全温测试，及集成电路、分立器件静态、动态电参数、元件电参数测试能力；
具有元件、器件、组件的失效分析、DPA、X射线检测、扫描电镜等分析技术能力；
具有各类元器件老练、寿命试验等电应力试验综合评价能力。
