国际标准化组织（ISO）最近发布了一项标准，该标准为纳米技术领域提供了重要的指南，特别是在扫描电子显微镜（SEMs）的使用方面：ISO 19749:2021《纳米技术——通过扫描电子显微镜测量颗粒大小和形状分布》。

测量纳米颗粒的粒度和形状对于了解其性能和在许多应用中的潜在用途至关重要。本项国际标准详细介绍了使用扫描电子显微镜（SEM）进行数据收集和分析，以确定纳米颗粒的大小和形状，其结果具有高度可重复性。扫描电子显微镜通过在表面扫描聚焦的电子束产生图像，并传递各种信号来指示电子束中的电子如何与材料相互作用，从而提供有关材料表面组成和形貌的重要信息。扫描电子显微镜在许多研究、开发和制造领域，包括纳米技术领域都是不可或缺的，并得到了广泛的应用。

新标准涉及离散和聚集纳米物体（纳米尺度上至少有一个维度的材料，即在1nm到100nm范围内）的两个形态属性——大小和形状。此外，ISO标准将得到广泛应用，因为世界范围内使用了许多扫描电子显微镜(SME)，使其成为纳米尺度测量不可或缺的“主力军”。

ISO 19749是由ISO/TC229“纳米技术”技术委员会的“测量和表征”第二联合工作组（JWG2）制定。该项目是由NIST的安德拉斯·弗拉达尔（Andras Vladar）博士（美国）和JEOL的佐藤友志（Tomoshige Sato）博士（日本）牵头，来自法国、德国、日本和墨西哥的国际专家为其做出了重要贡献。

ANSI认可的对口ISO/TC 229“纳米技术”技术委员会主席弗拉基米尔·穆拉肖夫（Vladimir Murashov）说道：“随着ISO 19749:2021的发布，美国对口ISO TC 229的技术咨询小组（TAG）继续牵头制定以严格描述纳米颗粒的两个最基本特征（即大小和形状）等基础标准。这些基础标准对于进一步推进研究和开发是必要的，最终目标是释放纳米技术的巨大潜力，以解决世界面临的最紧迫挑战。”

本标准作为ISO 21363《纳米技术——通过透射电子显微镜测量颗粒大小和形状分布》的配套文件，于2020年出版，由已故的埃里克·格鲁克（Eric Grulke）博士牵头制定。