美国军用标准MIL-S-19500规定半导体分立器件库存超过了36个月，交货时要通过电参数测试和外观检查；MIL-M-38510规定集成电路库存超过了36个月，交货时要通过电参数测试。欧洲空间局标准ESA-01-60以及欧洲空间标准化合作组织ECSS标准ECSS-Q-60A规定超过60个月的库存元器件，装机前应进行复验。这两个管理标准规定的复验程序包括电参数测试、外观目检、密封性检查和破坏性物理分析等。

储存期超过有效储存期的元器件应按一定的程序进行复验，复验通过的元器件，才能作为合格品用于装备型号正（试）样上。

以下为我国军用元器件超期复验的要求

超期复验的分类

元器件的超期复验需按照超过有效存储期时间的长短进行分类。元器件的超期复验超过有效储存期的时间分为A、B、C三类：

1、储存期已超过有效储存期，但未超过1.3倍的为A类。

2、储存期已超过有效储存期1.3倍，但未超过1.7倍的为B类。

3、储存期已超过有效储存期1.7倍，但未超过2.0倍的为C类。

除非另有规定，超过有效储存期2.0倍的元器件不得进行超期复验；对于已通过了A、B类超期复验，而且其总储存期未超过有效储存期2.0倍的元器件，允许按C类进行第二次超期复验；已经过C类超期复验的元器件，不得再次进行超期复验。

不同的装备研制，可根据需要对上述分类进行细化或剪裁，某航空型号的《元器件储存管理规定》中规定按有效储存期的长短分为A、B两类：

1、储存期已超过有效储存期，但未超过1.5倍的为A类。

2、储存期已超过有效储存期1.5倍，但未超过2.0倍的为B类。

元器件超期复验的要求

通常情况下，储存期超过有效储存期的元器件必须按相关技术文件的检验过程进行复验，通过复验的元器件，才能作为合格品装机使用，未经复验的超期元器件不得装机使用。超过有效储存期2.0倍的元器件不得进行超期复验。

在复验过程中发现致命缺陷（功能失效）或严重缺陷的元器件，应进行失效分析；如果分析结果表明缺陷为批次性，则同一生产批的元器件不得用于型号产品。

复验合格的元器件应继续在规定的环境条件下存放；复验不合格的元器件应严格隔离。以下简要介绍元器件超期复验要求。

01A类超期复验要求

A类超期复验时元器件储存期超过有效储存期的时间不长，重点检查对元器件的外观、电性能以及密封情况；

02B类及C类超期复验要求

B类或C类的超期复验时元器件储存期超过有效储存期的时间较长，除按A类超期复验的要求进行复验，还要重点对检查元器件的引出端可焊性以及引出端的强度，对于某些类别的元器件还要抽样进行破坏性物理分析检测。

① 引出端的可焊性，按下表规定进行检查。

② 引出端强度试验，按下表规定进行。允许采用同批电特性不合格的器件作为样本。

③ 破坏性物理分析试验

对于半导体器件、非固体钽电容器、密封继电器、金属壳封装的石英谐振器和振荡器进行复验时，应抽样做破坏性物理分析。破坏性物理分析的样本大小及合格判据参照下表。