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计算机铝合金支架失效分析

嘉峪检测网        2023-05-19 14:34

测试背景
 
 
客户提供之计算机铝合金支架毛坯件,其铰链上存在呈线状分布的凸起颗粒,且分布方向平行于铝挤方向。客户提供之阳极件,在相同位置存在一条黑线,其方向亦平行于铝挤方向。
 
1、测试项目、规范与设备
 
1.1测试项目及测试规范
 
 
1.2测试设备
 
 
2、测试环境及样品概述
 
2.1测试环境
 
温度:22.01℃;相对湿度:69.19%
 
2.2样品照片及缺陷描述
 
客户之计算机铝合金支架主要制程为:6系铝挤型材(毛坯件)→CNC1夹→CNC2夹→CNC3夹→清洗(碱洗和酸洗)→全检→喷砂→阳极。客户提供之Stand毛坯件,其铰链上存在呈线状分布的凸起颗粒,且分布方向平行于铝挤方向。客户提供之阳极件,在相同位置存在一条黑线,其方向亦平行于铝挤方向(见图1)。
 
为找到造成缺陷之真因,实验室对毛坯件及阳极件的缺陷区域进行了分析。
 
 图1样品及缺陷照片
 
3、数据分析
 
3.1 | SEM形貌观察及EDS成分分析(样品表面)
 
毛坯件表面存在深浅不一的铝挤痕,凸起颗粒大小不一,其表面亦可见挤压痕,颗粒沿铝挤方向被拉长,个别颗粒垂直于铝挤方向的尺寸达167μm(见图2);
 
阳极件黑线区域阳极膜较为粗糙,且黑线上存在大小不一的凹坑,大凹坑尺寸为177μm(见图3);
 
EDS成分测试结果表明,毛坯件表面的凸起颗粒与其周围基材均含有C、O、Mg、Al元素,二者各元素含量无明显差异(见表1);
 
阳极件的黑线区域与其周围正常区域均表现为阳极膜成分,未见其它异常元素。
 
图2样品表面SEM形貌观察
 
图3样品表面形貌及EDS成分测试位置
 
表1样品表面EDS成分测试结果(wt%)
 
3.2 | 截面观察(抛光态)
 
从截面可看,毛坯件上的凸起颗粒高于表面36.55μm,其截面轮廓凹凸起伏,与表面SEM形貌观察结果相符(见图4);
 
毛坯件凸起颗粒的底部存在密集分布的孔洞,颗粒下部及其周围靠近表面处可见灰暗区域;
 
阳极件黑线区域非凹坑处阳极膜厚度小于附近正常区域(厚度大于11μm),其表面及对应基材的轮廓均较为粗糙,与表面形貌观察结果相符;
 
阳极件黑线区域凹坑处基材呈凹陷状(深度为29μm),坑内阳极膜厚度不均,且小于附近正常区域,推测凹坑缺陷应形成于阳极制程之前。
 
图4样品截面抛光态观察
 
3.3 | EDS成分分析(毛坯件截面抛光态)
 
为确定毛坯件截面灰暗区域(见图5)的成分,对其进行EDS成分分析,结果见表2:
 
与其它区域相比,孔洞附近及灰暗区域检测到较高含量的O元素(测试位置2、位置3),推测灰暗区域可能存在氧化皮;
 
除局部含有O元素外,凸起颗粒成分与样品内部基材成分无明显差异。
 
图5 毛坯件截面形貌及EDS成分测试位置
 
 表2 毛坯件截面EDS成分测试结果(wt%)
3.4 | 金相组织(截面)
 
经金相腐蚀后,可见毛坯件抛光态下的灰暗区域被优先腐蚀,使凸起颗粒内部及其周围产生大的孔洞和缝隙,残留金属贴附于样品表面(见图6);
 
毛坯件凸起颗粒对应基材可见深度为18.85μm的凹坑,样品基材金相组织未见异常;
 
阳极件凹坑处与非凹坑处截面金相组织未见明显异常。
 
图6 样品截面金相组织
 
4、结论与建议
 
结论:
 
1.毛坯件表面凸起颗粒大小不一,其成分未见异常;
 
2.阳极件黑线区域阳极膜较为粗糙,且存在大小不一的凹坑,其成分未见异常;
 
3.毛坯件表面的凸起颗粒与阳极件黑线区域的凹坑尺寸均在100~200μm;
 
4.在截面抛光态下可见毛坯件凸起颗粒及其周围存在灰暗区域,EDS成分分析表明灰色区域O含量较高;
 
5.从截面可见阳极件凹坑处与非凹坑处阳极膜均比附近正常区域薄,凹坑深度为29μm;
 
6.经金相腐蚀后,毛坯件截面抛光态下的灰暗区域被优先腐蚀而形成大的孔洞和缝隙,阳极件截面金相组织未见明显异常;
 
7.综上,推测毛坯件上的凸起颗粒应为铝挤时压入型材表面的金属碎屑,而阳极件表面的黑线是由于基材表面粗糙度大且存在凹坑造成,这可能与型材表面质量有关。
 
建议:
 
原材料供应商检讨铝挤制程,如清除毛料的毛刺和清理挤压筒内的残余金属,并改善模具表面质量。
 

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