半导体集成电路霍尔效应数字开关电路中输出高电平电压VOH的检测

检测项：输出高电平电压VOH 检测样品：半导体集成电路霍尔效应数字开关电路 标准：半导体器件 集成电路 第2部分：数字电路 GB/T 17574-1998 第Ⅳ篇第二节第1条

检测机构：国家电子电器产品检测中心 更多相关信息>>

中国电信集团广东省电信公司艾特实验室

检测项：网络侧和用户侧接口测试 检测样品：数字电路倍增设备 标准：使用自适应差分脉冲编码调制(ADPCM)和数字话音插空(DSI)的数字电路倍增设备 YD/T 1018-1999

检测项：传输性能测试 检测样品：数字电路倍增设备 标准：使用自适应差分脉冲编码调制(ADPCM)和数字话音插空(DSI)的数字电路倍增设备 YD/T 1018-1999

检测项：功能验证 检测样品：数字电路倍增设备 标准：使用自适应差分脉冲编码调制(ADPCM)和数字话音插空(DSI)的数字电路倍增设备 YD/T 1018-1999

机构所在地：广东省广州市 更多相关信息>>

武汉网锐实验室(信息产业光通信产品质量监督检验中心)

检测项：直流供电 检测样品：数字电路倍增设备（DCME） 标准：YD/T 974-1998 SDH数字交叉连接设备(SDXC)技术要求和测试方法

检测项：功能测试 检测样品：数字电路倍增设备（DCME） 标准：YD/T 655-94 34368kbit/s光端机质量分等标准

检测项：设备外观及附件检验 检测样品：数字电路倍增设备（DCME） 标准：YD/T 655-94 34368kbit/s光端机质量分等标准

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

成都泰瑞通信设备检测有限公司

检测项：电接口 检测样品：数字电路倍增设备 标准：GB/T 13997-1999 2048kbit/s、8448kbit/s、34368kbit/s、139264kbit/s光端机技术要求

机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>

北京振兴计量测试研究所

检测项：交流参数 检测样品：数字电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000 半导体集成电路TTL测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996 半导体集成电路双极性随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路

检测项：直流参数 检测样品：数字电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000 半导体集成电路TTL测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996 半导体集成电路双极性随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路

机构所在地：北京市 更多相关信息>>