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检测项:输出高电平、低电平电流 检测样品:快闪存储器 标准:GB/T36477-2018 半导体集成电路快闪存储器测试方法
检测机构:国家电子电器产品检测中心 更多相关信息>>
检测项:自由跌落试验 检测样品:移动存储闪存盘 标准:信息技术 移动存储闪存盘通用规范 GB/T 26225-2010
检测项:冲击试验 检测样品:移动存储闪存盘 标准:信息技术 移动存储闪存盘通用规范 GB/T 26225-2010
检测项:湿热试验 检测样品:移动存储闪存盘 标准:信息技术 移动存储闪存盘通用规范 GB/T 26225-2010
机构所在地:广东省珠海市 更多相关信息>>
检测项:全项 检测样品:手持式信息处理设备 标准:GB/T18220-2000手持式个人信息处理设备通用规范 GB/T18787-2002 电子图书阅读器通用规范 GB/T26225-2010 信息技术移动存储闪存盘通用规范
机构所在地:北京市 更多相关信息>>