低温运行试验检测实验

血糖及血糖相关参数分析仪器

简介

血糖及血糖相关参数分析仪器

简介

血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述：通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。

血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途：与适配试剂配合使用，用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。

血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例：血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血脂监测仪、血糖血酮仪、血酮体测试仪、葡萄糖/乳酸分析仪、尿酸/血糖分析仪、血脂/血糖分析仪、血糖/胆固醇两用检测仪、血糖/胆固醇/甘油三酯/乳酸分析仪、血脂分析仪

血糖及血糖相关参数分析仪器管理类别：Ⅱ

血糖及血糖相关参数分析仪器相关指导原则：
1、血糖仪注册技术审查指导原则
2、自测用血糖监测系统注册申报资料指导原则

血糖及血糖相关参数分析仪器相关标准：
1、YY/T 1549-2017 生化分析仪用校准物下载2、YY/T 1662-2019 生化分析仪用质控物

血糖及血糖相关参数分析仪器相关检测项目：
1 . 外观《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
2 . 血糖仪和血糖试条测量重复性《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
3 . 血糖仪和血糖试条系统准确度《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
4 . 红细胞压积《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
5 . 血糖试条批间差《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
6 . 质控物质《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
7 . 血糖仪环境试验《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
8 . 血糖仪安全要求《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》

收起百科↑ 最近更新：2023年08月07日

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中检集团南方电子产品测试（深圳）有限公司

检测项：低温检测样品：电工电子产品标准：电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验A：低温 GB/T 2423.1-2008; IEC 60068-2-1 :2007

检测项：低温检测样品：电工电子产品标准：电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验A：低温 GB/T 2423.1-2008; IEC 60068-2-1 :2007

检测项：低温/振动(正弦)综合试验检测样品：运输包装件标准：电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Z/AFc：散热和非散热试验样品的低温/振动(正弦)综合试验 GB/T 2423.35-2005; IEC 60068-2-53 :2010

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中国电子科技集团公司第二十三研究所检验中心

检测项：*低温脆性检测样品：电工电子产品标准：电工电子产品环境试验第二部分:试验方法试验A:低温 GB/T 2423.1-2008 IEC 60068-2-1:2007

检测项：*低温试验检测样品：电缆和光缆绝缘护套材料标准：电线和光缆绝缘和护套材料通用试验方法第14部分：通用试验方法——低温试验GB/T 2951.14-2008 IEC 60811-1-4:1985

检测项：*低温检测样品：电工电子产品标准：电工电子产品环境试验第二部分:试验方法试验A:低温 GB/T 2423.1-2008 IEC 60068-2-1:2007

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广东省电子电器产品监督检验所

检测项：低温负荷检测样品：电工电子产品标准：电工电子产品环境试验第二部分：试验方法试验A：低温 GB/T 2423.1-2008

检测项：低温贮存检测样品：电工电子产品标准：电工电子产品环境试验第二部分：试验方法试验A：低温 GB/T 2423.1-2008

检测项：低温检测样品：电工电子产品标准：电工电子产品环境试验第二部分：试验方法试验A：低温 GB/T 2423.1-2008

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许昌开普检测技术有限公司开普实验室

检测项：低温检测样品：电气设备、继电器、继电保护及自动化设备标准：IEC 60068-2-1:2007环境试验第2-1部分：试验试验A：低温

检测项：高温检测样品：电气设备、继电器、继电保护及自动化设备标准：GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验A：低温

检测项：系统运行状态管理检验检测样品：配电自动化系统标准：Q/GDW 513-2010配电自动化主站系统功能规范

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四川航天计量测试研究所

检测项：全部参数检测样品：高低温低气压试验设备标准：电子电工产品环境试验设备检验方法-高低温低气压试验设备GB/T5170.10-2008

检测项：全部参数检测样品：高低温低气压试验设备标准：电子电工产品环境试验设备检验方法-高低温低气压试验设备GB/T5170.10-2008

检测项：全部参数检测样品：温度试验设备标准：电工电子产品环境试验设备检验方法——温度试验设备 GB/T5170.2-2008

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中国船舶重工集团第七0九研究所微电子测试校准实验室

检测项：低温试验检测样品：电子设备、产品标准：舰船电子设备环境试验低温试验 GJB4.3-1983

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检测项：高温试验检测样品：电子设备、产品标准：电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验A：低温 GB/T2423.1-2008

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中国电子科技集团公司第三十八研究所计量测试中心

检测项：低温试验检测样品：军用设备、电工电子产品标准：军用装备实验室环境试验方法低温试验GJB150.4A-2009

检测项：低温试验检测样品：军用设备、电工电子产品标准：军用装备实验室环境试验方法低温试验GJB150.4A-2009

检测项：高温试验检测样品：军用设备、电工电子产品标准：军用设备环境试验方法低温试验GJB150.4-86

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北京新立机械有限责任公司检测校准实验室

检测项：低气压偏差检测样品：高低温低气压试验设备标准：电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法高低温气压试验设备 GB/T 5170.10 -2008

检测项：径向跳动检测样品：温度试验设备标准：电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法温度试验设备 GB/T 5170.2-2008

检测项：齿廓检测样品：温度试验设备标准：电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法温度试验设备 GB/T 5170.2-2008

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西南技术物理研究所检测校准中心实验室

检测项：低温试验检测样品：军用设备及电气产品标准：军用设备环境试验方法低温试验 GJB 150.4-1986

检测项：低温试验检测样品：军用设备及电气产品标准：军用装备实验室环境试验方法高温试验 GJB 150.3A-2009

检测项：温度冲击试验检测样品：军用设备及电气产品标准：军用装备实验室环境试验方法低温试验 GJB 150.4A-2009

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中国电子科技集团公司第五十八研究所检测中心

检测项：低温存储检测样品：电子元器件标准：电工电子产品环境试验第2部分：试验方法　试验 B：低温 GB2423.1-2008

检测项：低温工作检测样品：电子元器件标准：低温工作寿命 JESD22-A108D-2010

检测项：温度冲击（气体介质）检测样品：电子元器件标准：电工电子产品环境试验第2部分：试验方法 GB/T2423.3-2006 试验 Cab 恒定湿热试验

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