中国船舶重工集团公司第七二二研究所计量检测中心

检测项：集电极 –发射极截止电流ICEO 检测样品：光电耦合器 标准：GB╱T15651-1995 《半导体器件 分立器件第5部分： 光电子器件》 GB／T6571-1995《半导体分立器件 第3部分》 GB／T4587-1994《半导体器件分立器件第7部分双极型晶体管》第Ⅳ章

检测项：发射极 –基极截止电流Iebo 检测样品：光电耦合器 标准：GB╱T15651-1995 《半导体器件 分立器件第5部分： 光电子器件》 GB／T6571-1995《半导体分立器件 第3部分》 GB／T4587-1994《半导体器件分立器件第7部分双极型晶体管》第Ⅳ章

检测项：集电极-发射极饱和电压Vcesat 检测样品：光电耦合器 标准：GB╱T15651-1995 《半导体器件 分立器件第5部分： 光电子器件》 GB／T6571-1995《半导体分立器件 第3部分》 GB／T4587-1994《半导体器件分立器件第7部分双极型晶体管》第Ⅳ章

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

上海精密计量测试研究所

检测项：零功率电阻值 检测样品：微波器件 标准：GJB 2650-96 微波元器件性能测试方法

检测项：温度-电阻特性 检测样品：微波器件 标准：GJB 2650-96 微波元器件性能测试方法

检测项：B值 检测样品：微波器件 标准：GJB 2650-96 微波元器件性能测试方法

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

中国空空导弹研究院计量测试中心

检测项：腕带 检测样品：同轴器件 标准：GJB2650-1996微波元器件性能测试方法

检测项：电压驻波比 检测样品：同轴器件 标准：GJB2650-1996微波元器件性能测试方法

机构所在地：河南省洛阳市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团公司第723研究所电工电子设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：电压调整率 检测样品：光电器件 标准：《半导体器件分立器件和集成电路 第5部分-3 光电子器件测试方法》GB/T15651.3-2003

检测项：电流调整率 检测样品：光电器件 标准：《半导体器件分立器件和集成电路 第5部分-3 光电子器件测试方法》GB/T15651.3-2003

检测项：静态电流 检测样品：光电器件 标准：《半导体器件分立器件和集成电路 第5部分-3 光电子器件测试方法》GB/T15651.3-2003

机构所在地：江苏省扬州市 更多相关信息>>

贵州航天计量测试技术研究所

检测项：介质耐电压 检测样品：二极管 标准：《半导体器件分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管》GB/T 6571-1995 《半导体器件分立器件和集成电路第2部分： 整流二极管》GB/T 4023-1997

检测项：反向电流IR 检测样品：二极管 标准：《半导体器件分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管》GB/T 6571-1995 《半导体器件分立器件和集成电路第2部分： 整流二极管》GB/T 4023-1997

检测项：正向电压VF 检测样品：光电耦合器 标准：《半导体器件分立器件和集成电路第5部分：光电子器件》GB/T 15651-1995 《半导体分立器件试验方法》GJB 128A-1997

机构所在地：贵州省贵阳市 更多相关信息>>

北京青云航空仪表有限公司理化计量中心

检测项：稳态功率 检测样品：晶体管 标准：半导体分立器件试验方法GJB128A-1997 半导体器件 分立器件 第8部分：场效应晶体管 GB/T4586-1994

检测项：正向电压 检测样品：二极管 标准：半导体分立器件试验方法GJB128A-1997 半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分：整流二极管GB/T4023-1997

检测项：高温反偏 检测样品：晶体管 标准：半导体分立器件试验方法GJB128A-1997 半导体器件 分立器件 第8部分：场效应晶体管 GB/T4586-1994

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

陕西省电子技术研究所电子元器件检测筛选中心

检测项：放大倍数（hFEL） 检测样品：场效应管 标准：半导体器件 分立器件 第8部分：场效应晶体管 GB/T4586-94 半导体分立器件试验方法 GJB128A-97

检测项：外部目检 检测样品：微电子器件 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005

检测项：温度循环 检测样品：半导体分立器件 标准：半导体分立器件试验方法 GJB128A-97

机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>

中国科学院半导体研究所元器件检测中心

检测项：湿度 检测样品：电工电子产品、军用设备、电子及电气元件、 半导体分立器件、微电子器件 标准：半导体分立器件试验方法 方法1032高温寿命(非工作) GJB128A-1997

检测项：湿度 检测样品：电工电子产品、军用设备、电子及电气元件、 半导体分立器件、微电子器件 标准：微电子器件试验方法 方法1008.1稳定性烘焙GJB548B-2005

检测项：冲击 检测样品：电工电子产品、军用设备、电子及电气元件、 半导体分立器件、微电子器件 标准：半导体分立器件试验方法 方法1021耐湿 GJB128A-1997

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

华东光电集成器件研究所计量测试中心

检测项：稳态湿热 检测样品：电子元器件 标准：微电子器件试验方法和程序　GJB548B-2005方法1004.1

检测项：热冲击（液体介质） 检测样品：电子元器件 标准：微电子器件试验方法和程序　 GJB548A-1996方法1011A

检测项：盐雾（腐蚀） 检测样品：电子元器件 标准：微电子器件试验方法和程序　 GJB548B-2005方法1011.1

机构所在地：安徽省蚌埠市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第四十七研究所电子器件质量检测实验室

检测项：电源电流ICC 检测样品：微电子器件 标准：微电子器件 试验方法和程序GJB548B-2005

检测项：耐湿 检测样品：微电子器件 标准：微电子器件 试验方法和程序GJB548B-2005

检测项：温度循环 检测样品：微电子器件 标准：微电子器件 试验方法和程序GJB548B-2005

机构所在地：辽宁省沈阳市 更多相关信息>>