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X射线探测器产品描述:X射线探测器(包括平板探测器或光电耦合器(CCD)探测器等)采用特定的光电转换介质将穿过人体的X射线信号转化为数字信号。影像系统一般包括图像传输,处理和显示系统。 X射线探测器预期用途:装配于或配合诊断X射线机,用于将X射线信号转化为数字信号。 X射线探测器品名举例:X射线平板探测器、X射线CCD探测器、X射线动态平板探测器 X射线...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年03月09日
检测项:硫含量 检测样品:润滑剂 标准:石油和石油产品硫含量的测定 能量色散X射线荧光光谱法GB/T17040-2008
机构所在地:江苏省南京市 更多相关信息>>
检测项:铅 检测样品:纺织品及相关产品 标准:采用能量分散X射线荧光光谱(ED-XRF)测定涂层和基材中总铅 ASTM F2853-10
检测项:总铅 检测样品:玩具和儿童用品 标准:采用能量分散X射线荧光光谱(ED-XRF)测定总铅 ASTM F2853-10
检测项:镀层厚度 检测样品:仿真首饰 标准:金属覆盖层 镀层厚度的测量 X射线光谱法 ISO 3497:2000
机构所在地:山东省青岛市 更多相关信息>>
检测项:邻近卡物理特性 检测样品:射频识别标签 标准:ISO/IEC 14443-1:2000 识别卡-无触点集成电路卡-邻近卡.第1部分: 物理特性
检测项:近耦合卡物理特性 检测样品:射频识别标签 标准:ISO/IEC 10536-1:2000 非接触集成电路卡 近耦合卡-第1部分:物理特性
检测项:识别卡一般特性 检测样品:集成电路(IC)卡 标准:1. GB/T 17554.1-2006识别卡 测试方法 第1部分:一般特性测试 2.ISO/IEC10373-1:2006识别卡-测试方法-第1部分:一般特性测试
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:Fe2O3 检测样品:耐火材料 标准:《耐火材料X射线荧光光谱化学分析熔铸玻璃片法》 GB/T 21114-2007
检测项:Al2O3 检测样品:耐火材料 标准:《耐火材料X射线荧光光谱化学分析熔铸玻璃片法》 GB/T 21114-2007
检测项:TiO2 检测样品:耐火材料 标准:《耐火材料X射线荧光光谱化学分析熔铸玻璃片法》 GB/T 21114-2007
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:物相 检测样品:金属粉末和粉末冶金与制品 标准:转靶多晶体X射线衍射方法通则JY/T 009-1996
检测项:粒度分析 检测样品:金属粉末和粉末冶金与制品 标准:粒度分析 光子相关光谱法 GB/T19627-2005
检测项:压缩性 检测样品:金属粉末和粉末冶金与制品 标准:金属粉末(不包括硬质合金粉末)在单轴压制中压缩性的测定 GB/T1481-2012
机构所在地:湖南省长沙市 更多相关信息>>
检测项:部分项目 检测样品:珠宝玉石 标准:贵金属首饰含量的无损检测方法 X射线荧光光谱法 GB/T18043-2008
检测项:全项目 检测样品:贵金属饰品 标准:贵金属首饰含量的无损检测方法 X射线荧光光谱法 GB/T18043-2008
机构所在地:江苏省南通市 更多相关信息>>
检测项:镍 检测样品:铝电解用预焙阳极 标准:铝生产用碳素材料 电极用生焦和煅烧焦 X射线荧光分析 ISO 12980:2000
检测项:钙 检测样品:铝电解用预焙阳极 标准:铝生产用碳素材料 电极用生焦和煅烧焦 X射线荧光分析 ISO 12980:2000
检测项:钠 检测样品:铝电解用预焙阳极 标准:铝生产用碳素材料 电极用生焦和煅烧焦 X射线荧光分析 ISO 12980:2000
机构所在地:河南省郑州市 更多相关信息>>
检测项:贵金属含量 检测样品: 标准:《首饰贵金属含量的测定X射线荧光光谱法》GB/T18043-2013
检测项:石棉 检测样品:化妆品 标准:进出口化妆品中石棉的测定 第1部分:X射线衍射-扫描电子显微镜法 SN/T2649.1-2010
检测项:铅,汞,铬,镉,溴 检测样品:电子电气产品 标准:电子电气产品中限用物质铅、汞、铬、镉和溴的快速筛选 X射线荧光光谱法 GB/Z 21277-2007
检测项:邻苯二胺、 间苯二胺、 对苯二胺 检测样品:化妆品 标准:进出口化妆品中石棉的测定 第1部分:X射线衍射-扫描电子显微镜法 SN/T 2649.1-2010
检测项:机房外环境辐射水平 检测样品:辐射防护 标准:医用X射线诊断机房卫生防护与检测评价规范 DB 31/462-2009
检测项:泄漏辐射空气比释动能率 检测样品:辐射防护 标准:工业X射线探伤放射卫生防护标准 GBZ 117-2006