中国空空导弹研究院元器件检测中心

检测项：反向电流IR 检测样品：双基极单结晶体管 标准：SJ/T10333-1993 单结晶体管测试方法

检测项：发射极与第一基极间反向电流Ieo 检测样品：继电器 标准：GJB1042A-2002 电磁继电器通用规范

检测项：集电极--基极截止电流ICBO 检测样品：晶体三极管 标准：GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管

机构所在地：河南省洛阳市 更多相关信息>>

常州天合光能有限公司光伏产品检测中心

检测项：反向电流过载试验 检测样品：平面光伏电池板 标准：平面光伏电池板 UL 1703:2012

检测项：反向过流试验 检测样品：光伏组件 标准：光伏组件安全认证 第二部分：试验要求 IEC 61730-2:2004

检测项：湿漏电流试验 检测样品：光伏组件 标准：光伏组件安全认证 第二部分：试验要求 IEC 61730-2:2004

机构所在地：江苏省常州市 更多相关信息>>

国营长风机器厂环境试验检测计量中心

检测项：反向电流 检测样品：开关二极管 标准：半导体器件分立器件第3部分信号(包括开关)和调整二极管 GB/T6571-1995

检测项：反向电流 检测样品：稳压二极管 标准：半导体器件分立器件第3部分信号(包括开关)和调整二极管 GB/T6571-1995

检测项：反向电流 检测样品：分立器件 筛选 标准：半导体分立器件试验方法GJB128A-1997

机构所在地：甘肃省兰州市 更多相关信息>>

上海无线电设备研究所环境与检测实验室

检测项：反向电流 检测样品：晶体 谐振器 标准：《石英晶体元件 总规范》 GJB 2138-1994

检测项：集电极-基极截止电流ICBO 检测样品：晶体 三极管 标准：《半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管》 GB/T 4587-1994

检测项：发射极-基极截止电流IEBO 检测样品：二极管 标准：《半导体器件 分立器件第3部分:信号(包括开关)和调整二极管》 GB/T 6571-1995

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

英利能源（中国）有限公司英利光伏实验室

检测项：反向电流过载测试 检测样品：光伏 组件 标准：UL 1703:2012 平面光伏模块及平板标准

检测项：湿漏电流试验 检测样品：光伏 组件 标准：UL 1703:2012 平面光伏模块及平板标准

检测项：电压、电流和功率测试 检测样品：光伏 组件 标准：UL 1703:2012 平面光伏模块及平板标准

机构所在地：河北省保定市 更多相关信息>>

国网计量中心

检测项：反向漏电流 检测样品：继电器 标准：控制用电磁继电器可靠性试验通则 GB/T15510-2008 电子式电能表用磁保持继电器 JB/T10923-2010

检测项：频带与截止频率 检测样品：局部放电测试仪 标准：高电压测试设备通用技术条件 第4部分：局部放电测量仪 DL 846.4-2004

检测项：短时热电流试验 检测样品：低压电流互感器 标准：计量用低压电流互感器 Q/GDW 572-2010

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中国科学院半导体研究所照明检测中心

检测项：反向电流 检测样品：发光二极管 标准：半导体发光二极管测试方法 SJ11394-2009

检测项：反向电流 检测样品：普通照明用LED模块 标准：金属覆盖层厚度轮廓尺寸测量方法 GB 11378-2005 微电子器件试验方法和程序 2016 GJB548B－2005 金相显微镜分析方法通则 JY/T 012-1996

检测项：输入功率、输入电流和功率因数 检测样品：LED照明产品 标准：LED筒灯性能测量方法 GB/T 29293-2012

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

西安东风仪表厂可靠性试验检测中心

检测项：反向漏电流 检测样品：半导体 二极管 标准：半导体分立器件试验方法GJB128A-1997

检测项：反向漏电流 检测样品：半导体 二极管 标准：半导体分立器件试验方法GJB128A-1997

检测项：双向开关截止电流 检测样品：半导体集成电路模拟开关 标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005

机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>

贵州天义电器有限责任公司电气检测中心

检测项：二极管电特性测试 检测样品：二极管 标准：半导体分立器件试验方法GJB128A-1997

检测项：最大线圈电流 检测样品：继电器、接触器 标准：飞机电磁继电器接触器技术条件HB5523-1980

检测项：最大线圈电流 检测样品：继电器、接触器（含可靠性指标） 标准：含可靠性指标的电磁继电器总规范GJB1461-1992 电子及电气元件试验方法GJB360B-2009 军用设备环境实验方法湿热试验GJB150.9-1986

机构所在地：贵州省遵义市 更多相关信息>>

惠州科锐半导体照明有限公司光电实验室

检测项：反向电流(IR) 检测样品：发光二极管 (LED) 标准：半导体集成电路封装结到外壳热阻测试方法 GB/T14862-1993

检测项：正向电流(IF) 检测样品：发光二极管 (LED) 标准：半导体集成电路封装结到外壳热阻测试方法 GB/T14862-1993

机构所在地：广东省惠州市 更多相关信息>>