反向电流过载测试检测实验

血糖及血糖相关参数分析仪器

简介

血糖及血糖相关参数分析仪器

简介

血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述：通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。

血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途：与适配试剂配合使用，用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。

血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例：血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血脂监测仪、血糖血酮仪、血酮体测试仪、葡萄糖/乳酸分析仪、尿酸/血糖分析仪、血脂/血糖分析仪、血糖/胆固醇两用检测仪、血糖/胆固醇/甘油三酯/乳酸分析仪、血脂分析仪

血糖及血糖相关参数分析仪器管理类别：Ⅱ

血糖及血糖相关参数分析仪器相关指导原则：
1、血糖仪注册技术审查指导原则
2、自测用血糖监测系统注册申报资料指导原则

血糖及血糖相关参数分析仪器相关标准：
1、YY/T 1549-2017 生化分析仪用校准物下载2、YY/T 1662-2019 生化分析仪用质控物

血糖及血糖相关参数分析仪器相关检测项目：
1 . 外观《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
2 . 血糖仪和血糖试条测量重复性《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
3 . 血糖仪和血糖试条系统准确度《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
4 . 红细胞压积《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
5 . 血糖试条批间差《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
6 . 质控物质《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
7 . 血糖仪环境试验《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
8 . 血糖仪安全要求《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》

收起百科↑ 最近更新：2023年08月07日

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中科华核电技术研究院有限公司核安全电气设备鉴定检测中心

检测项：反向电流检测样品：光耦合器标准：（1）半导体分立器件和集成电路第5－3部分：光电子器件测试方法 GB/T 15651.3-2003

检测项：反向电流检测样品：光耦合器标准：（1）半导体分立器件和集成电路第5－3部分：光电子器件测试方法 GB/T 15651.3-2003

检测项：反向电流检测样品：整流二极管标准：半导体器件分立器件和集成电路第2部分;整流二极管GB/T 4023-1997

机构所在地：北京市更多相关信息>>

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中国船舶重工集团公司第七二四研究所计量测试中心

检测项：反向电流检测样品：光电耦合器标准：GB/T6571-1995 半导体器件分立器件第3部分信号（包括开关）和调整二极管第Ⅳ章第1节1条第Ⅳ章第1节2条

检测项：反向电流检测样品：耦合器标准：GB/T6571-1995 半导体器件分立器件第3部分信号（包括开关）和调整二极管第Ⅳ章第1节1条第Ⅳ章第1节2条

检测项：反向电流检测样品：二极管标准：GB/T6571-1995　半导体器件分立器件第3部分信号（包括开关）和调整二极管第Ⅳ章第1节1条第Ⅳ章第1节2条第Ⅳ章第2节2.1条第Ⅳ章第2节2.2条

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广东省电子电器产品监督检验所

检测项：反向电流检测样品：发光二极管标准：半导体分立和集成电路第5-3部分：光电子器件测试方法 GB/T 15651.3-2003

检测项：反向峰值电流检测样品：整流二极管标准：半导体器件分立器件和集成电路第2部分：整流二极管 GB/T 4023-1997

检测项：短路和过载保护检测样品：隔离变压器、安全隔离变压器和开关型电源用变压器标准：电力变压器、电源、电抗器和类似产品的安全第1部分：通用要求和试验 GB 19212.1-2008 IEC 61558-1:2005+A1:2009 EN 61558-1:2005+A1:2009 电源电压为1100V及以下的变压器、电抗器、电源装置和类似

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宜昌测试技术研究所（中国船舶重工集团公司第七一0研究所）环境可靠性及电磁兼容检测实验室

检测项：反向漏电流检测样品：二极管标准：GB/T4023-1997 半导体器件分立器件和集成电路第2部分：整流二极管

检测项：反向漏电流检测样品：二极管标准：GB/T4023-1997 半导体器件分立器件和集成电路第2部分：整流二极管

检测项：反向截止电流检测样品：晶振标准：GJB1648A-2011 晶体振荡器通用规范 GJB2138-94 石英晶体元件总规范 GJB/Z45.1-93 军用压电器件系列型谱石英晶体元件

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中兴通讯股份有限公司材料实验室

检测项：反向漏电流检测样品：PCB 标准：半导体分立器件试验方法 GJB 128A-97

检测项：反向漏电流检测样品：PCB 标准：半导体分立器件试验方法 GJB 128A-97

检测项：反向漏电流检测样品：PCB 标准：半导体器件分立器件 -第3部分信号（包括开关）和稳压二极管 IEC 60747-3-1985

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广州市鸿利光电股份有限公司实验室

检测项：反向电流检测样品：标准：

检测项：正向电流检测样品：标准：

检测项：寿命测试检测样品：LED封装/阵列/模组标准：流明维持率的推算方法 IES TM-21-2011

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中国船舶重工集团公司第723研究所电工电子设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：集电极-发射极反向击穿电压检测样品：光电器件标准：《半导体器件分立器件和集成电路第5部分-3 光电子器件测试方法》GB/T15651.3-2003

检测项：输入二极管反向电流检测样品：双极型晶体管标准：《半导体分立器件和集成电路第7部分:双极型晶体管》GB/T4587-1994

检测项：反向漏电流检测样品：电阻器标准：《电子设备用固定电阻器第一部分:总规范》GB/T5729-2003

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湖北航天技术研究院计量测试技术研究所

检测项：反向电流IR 检测样品：二极管标准：半导体器件分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管 GB/T 6571-1995 半导体器件分立器件和集成电路第2部分：整流二极管 GB/T 4023-1997 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997

检测项：部分参数检测样品：电压调整器标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996

检测项：部分参数检测样品：DC/DC变换器标准：电源变换器测试方法 QJ 1467A-1997 混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997 微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 合集成电路通用规范 GJB 2438A-2002

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北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司

检测项：反向栅源漏电流Igssr 检测样品：光耦合器标准：1.GB/T15651.3-2003半导体分立器件和集成电路第5-3部分：光电子器件测试方法 2.GB12565-1990半导体器件光电子器件分规范

检测项：反向截止电流ICEO 检测样品：晶闸管标准：GB∕T 15291-1994半导体器件第6部分：晶闸管

检测项：反向漏电流Ir 检测样品：晶闸管标准：GB∕T 15291-1994半导体器件第6部分：晶闸管

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湖北省计量测试技术研究院

检测项：直流过压保护值检测样品：计算机用开关电源标准：微小型计算机系统设备用开关电源通用技术条件 GB/T 14714-2008

检测项：带外反向插入损耗检测样品：喇曼光纤放大器标准：喇曼光纤放大器技术条件 GB/T 20184-2006

检测项：反向小信号增益检测样品：光纤放大器（EDFA）标准：光纤放大器试验方法基本规范第2部分:功率参数的试验方法 GB/T 16850.2-1999

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