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血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述:通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。 血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途:与适配试剂配合使用,用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。 血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例:血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年08月07日
检测项:表面盐水喷雾检测方法 检测样品:电线电缆 标准:电工电子产品基本环境试验规程 试验Ka : 盐雾试验方法 GB/T 2423.17-2008
机构所在地:江苏省昆山市
检测项:低温冲击试验 检测样品:电缆和光缆绝缘和护套材料 标准:电缆和光缆绝缘和护套材料通用试验方法 第14部分:通用试验方法 – 低温试验 GB/T 2951.14-2008 IEC
机构所在地:广东省东莞市
检测项:拉伸试验 检测样品:金属和金属制品 标准:紧固件试验方法 拉伸强度 GJB715.23A-2008 紧固件试验方法 方法108 拉伸强度 NASM1312-108-2012
检测项:持久试验 检测样品:金属和金属制品 标准:紧固件试验方法 应力断裂GJB715.29-1990 紧固件试验方法 应力持久性GJB715.12-1990 紧固件试验方法 应力持久性-内螺纹紧固件
检测项:洛氏硬度 检测样品:金属和金属制品 标准:紧固件试验方法 方法10 应力断裂 NASM1312-10-1997 紧固件试验方法 方法5 应力持久性 NASM1312-5-1997
机构所在地:天津市
检测项:振动试验 检测样品:电工电子产品、军用设备、电子及电气元件、 半导体分立器件、微电子器件 标准:半导体分立器件试验方法 方法2016冲击试验方法 GJB128A-1997
检测项:恒定加速试验 检测样品:电工电子产品、军用设备、电子及电气元件、 半导体分立器件、微电子器件 标准:电子及电气元件试验方法 方法201 低频振动试验 GJB360B-2009
检测项:恒定加速试验 检测样品:电工电子产品、军用设备、电子及电气元件、 半导体分立器件、微电子器件 标准:电子及电气元件试验方法 方法204 高频振动试验 GJB360B-2009
机构所在地:北京市
检测项:沙尘试验 检测样品:电工电子产品 标准:电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验L:沙尘试验 GB/T 2423.37-2006 IEC 60068-2-68:1994
机构所在地:广东省珠海市
机构所在地:湖北省武汉市