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血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述:通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。 血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途:与适配试剂配合使用,用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。 血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例:血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年08月07日
检测项:稳态短路电流 检测样品:伸长试验仪 标准:漆包绕组线试验仪器设备检定方法 伸长试验仪JB/T4279.3-1994
检测项:输出电流 检测样品:直流稳压电源 标准:测量用直流稳压电源装置JB/T 9303-1999
机构所在地:福建省厦门市 更多相关信息>>
检测项:脱离器的动作负载耐受试验 检测样品:低压配电系统电涌保护器(SPD) 标准:电信和信号网络的电涌保护器(SPD)第1部分:性能要求和试验方法GB/T 18802.21-2004
检测项:负载侧电涌耐受能力试验 检测样品:信号网络浪涌保护器(SPD) 标准:信号网络浪涌保护器(SPD)技术要求和测试方法 YD/T 1542-2006
检测项:冲击耐受能力试验 检测样品: 标准:
机构所在地:四川省成都市 更多相关信息>>
检测项:输出短路电流 检测样品:半导体集成电路CMOS电路 标准:微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005
机构所在地:陕西省西安市 更多相关信息>>
检测项:承受弯曲的渗漏 检测样品:塑料管材、管件 标准:PE压力管材和管件的组装连接件一内压下承受弯曲的渗漏试验 ISO 3503:1976
检测项:压力试验和堆码 检测样品:塑料包装产品 标准:包装.满装运输包装.用压力试验机的压力试验和堆积试验 ISO 12048:1994
检测项:压力试验和堆码 检测样品:塑料包装产品 标准:包装运输包装件静载荷堆码试验方法 GB/T 4857.3-2008
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:部分项目 检测样品:通信用光纤 标准:光纤复合架空地线(OPGW)用预绞式金具 DL/T766-2003
检测项:部分项目 检测样品:通信光缆 标准:第2部分:光缆基本试验方法 GB/T 7424.2-2008
检测项:部分项目 检测样品:挤包绝缘电力电缆及其附件 标准:额定电压6kV到30kV电力电缆附件试验要求 IEC60502-4:2005
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:输出短路电流 检测样品:电子元器件 标准:微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006 方法3005.1
检测项:输出短路电流 检测样品:电子元器件 标准:微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006 方法3011.1
检测项:输出短路电流 检测样品:电子元器件 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000 第5.16条
机构所在地:江苏省无锡市 更多相关信息>>
检测项:输出短路电流Ios 检测样品:半导体集成 电路 (CMOS) 标准:微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005
检测项:输出短路电流Ios 检测样品:半导体集成 电路 (TTL) 标准:半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996
检测项:反向电流 检测样品:二极管 标准:半导体分立器件试验方法GJB128A-1997
检测项:限制短路电流耐受试验 检测样品:电动汽车 标准:电动汽车传导充电用连接装置 第2部分:交流充电接口 GB/T 20234.2-2011
检测项:短路保护 检测样品:锂离子蓄电池 标准:电动道路车辆--锂离子牵引电池组和系统的试验规范--第1部分:大功率应用 ISO 12405-1:2011
检测项:短路试验 检测样品:金属氢化物镍蓄电池 标准:电动自行车用蓄电池及充电器 第2部分:金属氢化物镍蓄电池及充电器 QB/T 2947.2-2008
检测项:输出短路电流 检测样品:电压调整器 标准:GB/T 4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理
检测项:输出短路电流 检测样品:运算放大器 标准:SJ/T10738-1996半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理
检测项:小信号短路正向跨导 检测样品:场效应晶体管 标准:GB/T4586-1994半导体分立器件分立器件第8部分场效应晶体管
机构所在地:江苏省南京市 更多相关信息>>
检测项:输出短路电流 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
检测项:反向电流 检测样品:分立器件 筛选 标准:半导体分立器件试验方法GJB128A-1997
检测项:输入失调电流 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
机构所在地:甘肃省兰州市 更多相关信息>>