失真限制输出电压和功率检测实验

生殖和发育毒性

简介

YY/T 1292.1-2015医疗器械生殖和发育毒性试验第1部分：筛选试验 YY/T 1292.2-2015医疗器械生殖和发育毒性试验第2部分：胚胎发育毒性试验 YY/T 1292.3-2016医疗器械生殖和发育毒性试验第3部分：一代生殖毒性试验 YY/T 1292.4-2017医疗器械生殖和发育毒性试验第4部分：两代生殖毒性试验查看详情>>

生殖和发育毒性

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YY/T 1292.1-2015医疗器械生殖和发育毒性试验第1部分：筛选试验
YY/T 1292.2-2015医疗器械生殖和发育毒性试验第2部分：胚胎发育毒性试验
YY/T 1292.3-2016医疗器械生殖和发育毒性试验第3部分：一代生殖毒性试验
YY/T 1292.4-2017医疗器械生殖和发育毒性试验第4部分：两代生殖毒性试验

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收起百科↑ 最近更新：2022年04月19日

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中国工程物理研究院计量测试中心

检测项：输出电压持续时间检测样品：二次电压电流仪表标准：GB/T 22264.1-2008 《安装式数字显示电测量仪表第1部分：定义和通用要求》

检测项：输出电流检测样品：二次电压电流仪表标准：GB/T 22264.1-2008 《安装式数字显示电测量仪表第1部分：定义和通用要求》

检测项：输出电压检测样品：耐压测试仪标准：SJ/T 11384-2008 《耐压测试仪通用规范》

机构所在地：四川省绵阳市更多相关信息>>

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中国航空综合技术研究所航空综合环境航空科技重点实验室

检测项：DC/DC变换器输出纹波电压Vrip 检测样品：晶体谐振器标准：SJ2052-1982 《30兆赫以下石英谐振器频率和等效电路参数的测量方法》

检测项：DC/DC变换器输出电压Vo 检测样品：DC/DC变换器标准：SJ 20646-1997《混合集成电路DC/DC变换器测试方法》

检测项：电压变化检测样品：军工航空机载用电设备标准：GJB181-1986《飞机供电特性及对用电设备的要求》

机构所在地：北京市更多相关信息>>

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贵州航天计量测试技术研究所

检测项：输出峰-峰电压VOPP 检测样品：A/D 、D/A转换器标准：《半导体集成非线性电路数字/模拟转换器和模拟/数字转换器测试方法》 SJ/T 10818-1996

检测项：输出高电平电压VOH 检测样品：电压比较器标准：《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》SJ/T 10805-2000

检测项：输出低电平电压VOL 检测样品：电压比较器标准：《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》SJ/T 10805-2000

机构所在地：贵州省贵阳市更多相关信息>>

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上海精密计量测试研究所

检测项：逻辑输出电压电平检测样品：二极管标准：GB/T6571-1995 半导体器件分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管

检测项：逻辑输出电压电平检测样品：二极管标准：GB/T6571-1995 半导体器件分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管

检测项：输出高电平电压VOH 检测样品：A/D转换器标准：QJ3044-98 半导体集成电路数/模转换器和模/数转换器测试方法 SJ 20961-2006 集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理

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北京通和实益电信科学技术研究所有限公司威尔克通信实验室

检测项：最大电压检测样品：双模数字移动电话机标准：YD/T 1884-2009信息终端设备声压输出限值要求和测量方法

检测项：环境和机械性能试验检测样品：基于平面光波导（PLC）的光功率分路器标准：平面光波导集成光路器件第1部分：基于平面光波导（PLC）的光功率分路器 YD/T 2000.1-2009

检测项：工作带宽检测样品：基于平面光波导（PLC）的光功率分路器标准：平面光波导集成光路器件第1部分：基于平面光波导（PLC）的光功率分路器 YD/T 2000.1-2009

机构所在地：北京市更多相关信息>>

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西安微电机研究所微电机实验室

检测项：最大输出电压检测样品：多极旋转变压器* 标准：多极和双通道旋转变压器通用技术条件 GB/T10404－2007

检测项：最大输出电压相位移检测样品：多极旋转变压器* 标准：多极和双通道旋转变压器通用技术条件 GB/T10404－2007

检测项：输出电压检测样品：感应移相器* 标准：感应移相器通用技术条件 JB/T6225－1992

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西南技术物理研究所检测校准中心实验室

检测项：输出高低电平电压检测样品：电子元器件标准：微电路试验方法和程序GJB 548B-2005

检测项：输出高电平电压检测样品：CMOS电路标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

检测项：输出低电平电压检测样品：CMOS电路标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

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南京费迪电气检测技术有限公司

检测项：相序滤波器输出电压检测样品：继电器及继电保护装置标准：继电保护和安全自动装置基本试验方法 GB/T 7261-2008

检测项：谐波失真影响检测样品：过程测量和控制装置标准：过程测量和控制装置通用性能评定方法和程序第3部分：影响量影响的试验 GB/T 18271.3-2000 IEC 61298-3:2008 电磁兼容试验和测量技术射频电磁场辐射抗扰度试验 GB/T 17626.3-2006 IEC 61000-4-3:

检测项：输出纹波检测样品：过程测量和控制装置标准：过程测量和控制装置通用性能评定方法和程序第3部分：影响量影响的试验 GB/T 18271.3-2000 IEC 61298-3:2008

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中国空空导弹研究院元器件检测中心

检测项：基准输出电压VRO 检测样品：晶体三极管标准：GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路第7部分:双极型晶体管

检测项：输出电压检测样品：旋转变压器标准：GJB929A-1998 旋转变压器通用规范

检测项：输出电压VO 检测样品：DC/DC转换器标准：SJ 20646-1997 混合集成电路DC/DC变换器测试方法

机构所在地：河南省洛阳市更多相关信息>>

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湖南航天管理局计量检测中心

检测项：输出纹波电压Vrip 检测样品：集成电路筛选标准：微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005

检测项：输出电压VO 检测样品：三端稳压电源（电压调整器）标准：GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理

检测项：输出电压VO 检测样品：三端稳压电源（电压调整器）标准：GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理

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