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YY/T 1292.1-2015医疗器械生殖和发育毒性试验 第1部分:筛选试验 YY/T 1292.2-2015医疗器械生殖和发育毒性试验 第2部分:胚胎发育毒性试验 YY/T 1292.3-2016医疗器械生殖和发育毒性试验 第3部分:一代生殖毒性试验 YY/T 1292.4-2017医疗器械生殖和发育毒性试验 第4部分:两代生殖毒性试验 查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2022年04月19日
检测项:输出共模 抑制比 检测样品:TTL电路 标准:SJ/T 10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:输出峰-峰值 检测样品:TTL电路 标准:SJ/T 10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:输出高电平电压 检测样品:电子产品、军用装备 标准:GB/T 2423.10-2008电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验 Fc:振动(正弦)
机构所在地:云南省昆明市 更多相关信息>>
检测项:光输出 检测样品:方向性LED灯 标准:能源之星程序对灯具的合格评定要求 版本1.2
检测项:光输出 检测样品:非方向性LED灯 标准:ANSI C82.77-2002 谐波发射限值-照明设备相关电源质量要求
检测项:光输出 检测样品:光学测量 标准:ANSI C82.77-2002 谐波发射限值-照明设备相关电源质量要求
机构所在地:广东省东莞市 更多相关信息>>
检测项:输出过压保护 检测样品:通信用直流-直流模块电源 标准:电子组件的可接受性IPC-A-610E-2010
检测项:输出过压保护 检测样品:通信连接器 标准:电子组件的可接受性IPC-A-610E-2010
检测项:振荡器输出波形(脉冲) 检测样品:振荡器 标准:有质量评定的石英晶体振荡 第1部分:总规范 IEC 60679-1-2007
机构所在地:广东省深圳市 更多相关信息>>
检测项:输出高电平电压 检测样品:TTL电路 标准:SJ/T10735-1996半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:输出高电平阈值电压 检测样品:TTL电路 标准:SJ/T10735-1996半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:输出低电平阈值电压 检测样品:TTL电路 标准:SJ/T10735-1996半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
机构所在地:江苏省南京市 更多相关信息>>
检测项:输出高电平电压 检测样品:CMOS集成电路 标准:半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
检测项:输出低电平电压 检测样品:CMOS集成电路 标准:半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
检测项:输出短路电流 检测样品:CMOS集成电路 标准:半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
机构所在地:重庆市 更多相关信息>>
检测项:输出短路电流 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
检测项:输出高电平电压 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
检测项:输出高电平电流 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
机构所在地:甘肃省兰州市 更多相关信息>>
检测项:记录数据的输出及传送功能检查 检测样品:继电保护测试装置 标准:继电保护微机型试验装置技术条件DL/T624 -2010
检测项:输出TSF数据的可用性 检测样品:信息系统 标准:GB/T18336.2-2008 信息技术 安全技术 信息技术安全性评估准则 第2部分:安全功能要求
检测项:输出TSF数据的保密性 检测样品:信息系统 标准:GB/T18336.2-2008 信息技术 安全技术 信息技术安全性评估准则 第2部分:安全功能要求
机构所在地:四川省成都市 更多相关信息>>
检测项:灯具光输出比 检测样品:灯具 标准:灯具分布光度测量的一般要求 GB/T 9468-2008
检测项:光输出 检测样品:卤钨灯(非机动车辆用) 标准:白炽灯寿命试验的测量方法 IES LM-49-12
检测项:光输出 检测样品:紧凑型荧光灯 标准:荧光灯的寿命测量方法 IES LM-40-10
机构所在地:广东省广州市 更多相关信息>>
检测项:光输出 检测样品:自整流LED灯泡 标准:电压>50V的普通照明用LED灯泡-性能标准 IEC 62612:2013
检测项:灯具光输出比 检测样品:投光灯具 标准:投光灯具光度测试 GB/T 23110-2008 CIE 43:1979
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:输出电压 检测样品:电压比较器 标准:半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理GB/T6798-1996
检测项:输出电流 检测样品:电压比较器 标准:半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理GB/T6798-1996
检测项:饱和电压 检测样品:电容器 标准:半导体光耦合器输出饱和压降的测试方法SJ2215.8-1982