官方微信
您当前的位置:首页 > 射频输入信号电平
射频浅表治疗设备产品描述:通常由射频发生器、温度测量装置、治疗电极、电缆、中性电极(若有)等组成。通过治疗电极将射频能量(一般以电流的形式)作用于人体皮肤及皮下组织,使人体组织、细胞发生病理/生理学改变。 射频浅表治疗设备预期用途:用于治疗皮肤松弛,减轻皮肤皱纹,收缩毛孔,紧致、提升皮肤组织等。 射频浅表治疗设备品名举例:射频治疗仪、射频皮肤治疗仪 射频...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年03月27日
检测项:输入高电平电流IIH 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:输入低电平电流IIL 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:输入高电平电压VIH 检测样品:半导体集成电路CMOS电路 标准:SJ/T10741-2000 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:输入高电平电流IIH 检测样品:电压调整器 标准:GB/T 4377-1996《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》
检测项:输入低电平电流IIL 检测样品:电压调整器 标准:GB/T 4377-1996《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》
检测项:输入高电平电流IIH 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996《半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理》
机构所在地:湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项:最大允许 输入电平 检测样品:GSM移动通信直放机 标准:《900MHz/1800MHz TDMA数字蜂窝移动通信网直放站技术要求和测试方法》YD/T 1337- 2005
检测项:输出信号频谱 检测样品:数字微波通信设备 标准:《数字微波接力通信设备测量方法》 GB/T 12640-1990 《关于调整1-30GHz数字微波接力通信系统容量系列及射频波道配置的通知》 信部无[2000]705号
检测项:静态参考灵敏度电平 检测样品:GSM移动通信直放机 标准:《900MHz/1800MHz TDMA数字蜂窝移动通信网直放站技术要求和测试方法》YD/T 1337- 2005
机构所在地:陕西省西安市 更多相关信息>>
检测项:输入高电平电流 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项:输入低电平电流 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项:输入高电平电压 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
机构所在地:四川省成都市 更多相关信息>>
检测项:输入高电平电压 检测样品:电子元器件 标准:微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006 方法3022
检测项:输入高电平电流 检测样品:电子元器件 标准:微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006 方法3007.1
检测项:输入低电平电流 检测样品:电子元器件 标准:微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006 方法3010.1
机构所在地:江苏省无锡市 更多相关信息>>
检测项:输入输出电平差 检测样品:数字电影放映系统 标准:《数字电影中档放映系统技术要求和测量方法》GY/T 256-2012
检测项:线路输入最高电平 检测样品:调音台 标准:《广播调音台电性能运行技术指标测量方法》GY 76-1989
检测项:控制信号输入/输出 检测样品:标准清晰度数字电视编码器、解码器 标准:《标准清晰度数字电视编码器、解码器技术要求和测量方法》GY/T 212-2005
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:输入低电平电压VIL 检测样品:半导体集成 电路 (CMOS) 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
检测项:输入高电平电流IIH 检测样品:半导体集成 电路 (CMOS) 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
检测项:输入高电平电流IIH 检测样品:半导体集成 电路 (TTL) 标准:半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996
检测项:输入高电平电流 检测样品:TTL电路 标准:SJ/T10735-1996半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:输入低电平电流 检测样品:TTL电路 标准:SJ/T10735-1996半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:输入高电平电流 检测样品:电压调整器 标准:GB/T 4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理
机构所在地:江苏省南京市 更多相关信息>>
检测项:输入高电平电流 检测样品:CMOS集成电路 标准:半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
检测项:输入低电平电流 检测样品:CMOS集成电路 标准:半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
检测项:输入高电平 电压 检测样品:CMOS集成电路 标准:半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
机构所在地:重庆市 更多相关信息>>
检测项:输入低电平电压VIL 检测样品:数字集成电路 标准:GB/T 17574-1998半导体器件集成电路 第2部分 数字集成电路
检测项:输入高电平电流IIH 检测样品:模拟/混合集成电路 标准:GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 17940-2000半导体器件集成电路 第3部分 模拟集成电路 GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 14028-199
检测项:输入低电平电流IIL 检测样品:模拟/混合集成电路 标准:GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 17940-2000半导体器件集成电路 第3部分 模拟集成电路 GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 14028-199
机构所在地:河南省洛阳市 更多相关信息>>