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射频浅表治疗设备产品描述:通常由射频发生器、温度测量装置、治疗电极、电缆、中性电极(若有)等组成。通过治疗电极将射频能量(一般以电流的形式)作用于人体皮肤及皮下组织,使人体组织、细胞发生病理/生理学改变。 射频浅表治疗设备预期用途:用于治疗皮肤松弛,减轻皮肤皱纹,收缩毛孔,紧致、提升皮肤组织等。 射频浅表治疗设备品名举例:射频治疗仪、射频皮肤治疗仪 射频...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年03月27日
检测项:输出高电平电压 检测样品:CMOS集成电路 标准:半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
检测项:输出低电平电压 检测样品:CMOS集成电路 标准:半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
检测项:输出高阻态时高电平电流 检测样品:CMOS集成电路 标准:半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
机构所在地:重庆市 更多相关信息>>
检测项:输出高电平电压 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
检测项:输出低电平电压 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
检测项:输出高电平电流 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
机构所在地:甘肃省兰州市 更多相关信息>>
检测项:输出高阻态时低电平电流IOZL 检测样品:DC/DC模块 标准:SJ20646-1997 混合集成电路DC/DC变换器测试方法
检测项:输出低电平电压VOL 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
机构所在地:湖南省长沙市 更多相关信息>>
检测项:输出高电平电压VOH 检测样品:电压比较器 标准:GB/T 6798-1996《半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理》
检测项:输出低电平电压VOL 检测样品:电压比较器 标准:GB/T 6798-1996《半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理》
检测项:高电平输出电流IOH 检测样品:电压比较器 标准:GB/T 6798-1996《半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理》
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:输出高电平电压 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996
检测项:输出低电平电压 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996
检测项:输出高阻态时高电平电流 检测样品:半导体集成电路CMOS电路 标准:微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005
机构所在地:陕西省西安市 更多相关信息>>
检测项:互调测试 检测样品:WLAN无线接入设备 标准:IEC 62037-1999 射频连接器、连接电缆附件和连接电缆互调电平测试
检测项:输出电压稳定精度 检测样品:UPS电源 标准:YD/T 1095-2008通信用不间断电源(UPS)
检测项:输出电压不平衡度 检测样品:UPS电源 标准:YD/T 1095-2008通信用不间断电源(UPS)
机构所在地:广东省广州市 更多相关信息>>
检测项:蓝牙最大输入电平RCV/CA/06/C 检测样品:蓝牙设备 标准:蓝牙射频测试规范 RF.TS/4.0.2
检测项:蓝牙EDR最大输入电平RCV/CA/10/C 检测样品:蓝牙设备 标准:蓝牙低功耗射频测试规范 RF-PHY.TS/4.0.1
检测项:RCV-LE/CA/06/C (最大输入信号电平) 检测样品:蓝牙设备 标准:蓝牙低功耗射频测试规范 RF-PHY.TS/4.0.1
机构所在地:广东省深圳市 更多相关信息>>
检测项:射频输入信号电平 检测样品:CATV传输设备 标准:GY/T 143-2000 有线电视系统调幅激光发送机和接收机入网技术条件和测量方法
检测项:不圆度 检测样品:自承式室外光缆 标准:YD/T 2289.1-2011 无线射频拉远单元(RRU)用线缆 第1部分:光缆
检测项:发射频谱平滑度 检测样品:WLAN设备 标准:GB 15629.1102-2003 信息技术 系统间远程通信和信息交换局域网和城域网 特定要求 第11部分 无线局域网媒体访问控制和物理层规范 2.4GHz频段较高速物理层扩展规范
机构所在地:四川省成都市 更多相关信息>>
检测项:1dB压缩点输入功率电平、1dB压缩点输出功率电平 检测样品:场效应晶体管 标准:1、GB/T 4586-1994 半导体器件第8部分:场效应晶体管 2、GB/T 20516-2006 半导体器件 分立器件 第4部分:微波器件
检测项:输出高电平VOH 检测样品:半导体集成电路 (数字集成电路) 标准:GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第Ⅳ篇
检测项:输出低电平VOL 检测样品:半导体集成电路 (数字集成电路) 标准:GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第Ⅳ篇
机构所在地:河北省石家庄市 更多相关信息>>
检测项:部分项目 检测样品:煤矿用直流稳压电源 标准:GB12113-2003 接触电流和保护导体电流的测量方法 MT/T408-1995煤矿用直流稳压电源 MT/T1078-2008矿用本质安全输出直流电源 GB4943-2001信息技术设备的安全 GB4706.1-2005家用和类似用途电器的安全 第一部
检测项:部分项目 检测样品:煤矿用提升信号装置 标准:MT/T834-1999煤矿用提升信号装置通用技术条件
机构所在地:江苏省常州市 更多相关信息>>