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检测项:芯片剪切或拉力 检测样品:半导体集成电路 标准:合格制造厂认证用半导体集成电路通用规范GJB7400-2011
检测机构:中国航天科技集团公司检测中心 更多相关信息>>
检测项:绝缘护套空气箱老化前后拉力 检测样品:电机绕组引接软电缆和软线 标准:JB/T 6213.1-2006《电机绕组引接软电缆和软线 第1部分:一般规定》
检测机构:国家电线电缆质量监督检验中心 更多相关信息>>
检测项:门极正向峰值功率/峰值电流/峰值电压 检测样品:晶闸管 标准:半导体器件 第6部分 晶闸管 GB/T 15291-1994 反向阻断三极晶闸管测试方法 JB/T 7626-1994
检测项:反向重复/不重复峰值电压 检测样品:晶闸管 标准:半导体器件 第6部分 晶闸管 GB/T 15291-1994 反向阻断三极晶闸管测试方法 JB/T 7626-1994
检测项:断态重复/不重复峰值电压 检测样品:晶闸管 标准:半导体器件 第6部分 晶闸管 GB/T 15291-1994 反向阻断三极晶闸管测试方法 JB/T 7626-1994
机构所在地:陕西省西安市
机构所在地:广东省广州市