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温度冲击试验简介 热冲击试验(Thermal Shock Testing)常被称作温度冲击试验(Temperature Shock Testing)或者温度循环(Temperature Cycling)、高低温冷热冲击试验。温度冲击按照GJB 150.5A-2009 3.1的说法,是装备周围大气温度的急剧变化,温度变化率大于10度/min,即为温度冲击。 温度冲击...查看详情>>
上面3种试验,1、2以空气作为介质,第3种以液体(水或其它液体)作为介质。1、2的转换时间较长,3的转换时间较短。
收起百科↑ 最近更新:2017年07月05日
机构所在地:北京市
机构所在地:四川省绵阳市
检测项:热震试验 检测样品:保温耐火 材料 标准:标称电压高于1000V的架空线路绝缘子 第1部分:交流系统用瓷或玻璃绝缘子元件GB/T1001.1-2003
机构所在地:浙江省杭州市
机构所在地:福建省福州市
检测项:限制电压 检测样品:电信和信号网络电涌保护器(SPD) 标准:GB/T 5169.11-2006 《电工电子产品着火危险试验 第11部分:灼热丝/热丝基本试验方法 成品的灼热丝可燃性试验方法》
检测项:防火试验 检测样品:电信和信号网络电涌保护器(SPD) 标准:GB/T 5169.11-2006 《电工电子产品着火危险试验 第11部分:灼热丝/热丝基本试验方法 成品的灼热丝可燃性试验方法》
检测项:绝缘电阻 检测样品:低压配电系统电涌保护器(SPD) 标准:GB/T 5169.11-2006 《电工电子产品着火危险试验 第11部分:灼热丝/热丝基本试验方法 成品的灼热丝可燃性试验方法》
机构所在地:广西壮族自治区南宁市
检测项:高温寿命(非工作) 检测样品:晶体管 标准:半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997
检测项:温度循环 检测样品:晶体管 标准:半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997
机构所在地:湖北省孝感市