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YY/T 1292.1-2015医疗器械生殖和发育毒性试验 第1部分:筛选试验 YY/T 1292.2-2015医疗器械生殖和发育毒性试验 第2部分:胚胎发育毒性试验 YY/T 1292.3-2016医疗器械生殖和发育毒性试验 第3部分:一代生殖毒性试验 YY/T 1292.4-2017医疗器械生殖和发育毒性试验 第4部分:两代生殖毒性试验 查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2022年04月19日
检测项:终端牢固性试验 检测样品:电工电子产品、军用设备、电子及电气元件、 半导体分立器件、微电子器件 标准:半导体分立器件试验方法 方法2036 引出端强度 GJB128A-1997
检测项:键和强度 检测样品:电工电子产品、军用设备、电子及电气元件、 半导体分立器件、微电子器件 标准:半导体分立器件试验方法 方法2037 键和强度试验 GJB128A-1997
检测项:物理尺寸 检测样品:电工电子产品、军用设备、电子及电气元件、 半导体分立器件、微电子器件 标准:微电子器件试验方法 方法2011.1键和强度(破坏性键和拉力试验) GJB548B-2005
机构所在地:北京市
检测项:外接导线的接线端检验 检测样品:小功率电动机(安全要求) 标准:小功率电动机的安全要求 GB 12350-2009
检测项:外接导线的接线端检验 检测样品:小功率电动机(安全要求) 标准:小功率电动机的安全要求 GB 12350-2009
机构所在地:天津市
检测项:引出端强度 拉力 检测样品:发光二极管 标准:半导体器件机械和气候试验方法 GB/T 4937-1995 半导体器件机械和气候试验方法 第1部分:总则 GB/T 4937.1-2006
检测项:引出端强度引线弯曲转矩 检测样品:整流二极管 标准:半导体器件机械和气候试验方法 GB/T 4937-1995 半导体器件机械和气候试验方法 第1部分:总则 GB/T 4937.1-2006
检测项:引出端强度:弯曲 检测样品:双极型晶体管 标准:半导体器件机械和气候试验方法 GB/T 4937-1995 半导体器件机械和气候试验方法 第1部分:总则 GB/T 4937.1-2006
机构所在地:广东省广州市
机构所在地:广东省深圳市