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YY/T 1292.1-2015医疗器械生殖和发育毒性试验 第1部分：筛选试验 YY/T 1292.2-2015医疗器械生殖和发育毒性试验 第2部分：胚胎发育毒性试验 YY/T 1292.3-2016医疗器械生殖和发育毒性试验 第3部分：一代生殖毒性试验 YY/T 1292.4-2017医疗器械生殖和发育毒性试验 第4部分：两代生殖毒性试验 查看详情>>
YY/T 1292.1-2015医疗器械生殖和发育毒性试验 第1部分：筛选试验收起百科↑ 最近更新：2022年04月19日
检测项：*声压级检测 检测样品：接触式IC卡 标准：识别卡 带触点的集成电路卡第3部分： 电信号和传输协议 GB/T16649.3-2006 ISO/IEC 7816-3-2006
检测项：*最高输出电平 检测样品：接触式IC卡 标准：识别卡 带触点的集成电路卡第3部分： 电信号和传输协议 GB/T16649.3-2006 ISO/IEC 7816-3-2006
检测项：*输出信噪比 检测样品：接触式IC卡 标准：识别卡 带触点的集成电路卡第3部分： 电信号和传输协议 GB/T16649.3-2006 ISO/IEC 7816-3-2006
机构所在地：上海市
检测项：T=0协议测试 检测样品：金融集成电路（IC）卡及其受理设备 标准：ISO/IEC 7816-1不测：电磁干扰 GB/T 16649.1-2006不测：抗X射线和电磁干扰、电磁场、点压力
检测项：T=1协议测试 检测样品：金融集成电路（IC）卡及其受理设备 标准：ISO/IEC 7816-1不测：电磁干扰 GB/T 16649.1-2006不测：抗X射线和电磁干扰、电磁场、点压力
检测项：传输协议 检测样品：金融集成电路（IC）卡及其受理设备 标准：ISO/IEC 7816-1不测：电磁干扰 GB/T 16649.1-2006不测：抗X射线和电磁干扰、电磁场、点压力
机构所在地：北京市
机构所在地：河南省郑州市
机构所在地：江苏省昆山市
机构所在地：北京市
机构所在地：广东省广州市
检测项：额定短时耐受电流的承载能力试验 检测样品：低压开关设备和控制设备 标准：低压开关设备和控制设备 第1部分：总则 GB 14048.1-2006 IEC 60947-1:2007+A1:2010
机构所在地：上海市
机构所在地：福建省福州市
