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血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述:通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。 血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途:与适配试剂配合使用,用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。 血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例:血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年08月07日
检测项:温度寿命(电连接器和插座) 检测样品:电工电子产品 标准:电连接器和插座的温度寿命测试(带载或不带载)程序 EIA-364-17B-1999
检测项:厚度测试 检测样品:板材及其制品 标准:高效液相色谱质谱联用仪测试全氟辛烷磺酰基化合物 ISO 25101-2009
检测项:总铅 检测样品:玩具 标准:加拿大产品安全实验室手册第5卷-实验室方针与程序 Part B测试方法 金属消费品中总铅的测试 C-02.4:08
机构所在地:江苏省昆山市 更多相关信息>>
检测项:工作寿命 检测样品:电子元件 标准:所有规格的(音频,功率和大功率脉冲)变压器和电感的性能标准 MIL-PRF-27F-1999
检测项:高温储存 检测样品:电子元件 标准:电子元件及器件的测试方法 寿命(在提高的环境温度下)MIL-STD-202G Method 108A-1963
检测项:热冲击 检测样品:电子元件 标准:电子元件及器件的测试方法 热冲击 MIL-STD-202G Method 107G-1984
机构所在地:广东省梅州市 更多相关信息>>
检测项:间歇寿命试验 检测样品:功率金属氧化物场效应管 标准:温度,反偏和操作寿命试验 JESD22-A108D:2010
检测项:间歇寿命试验 检测样品:功率金属氧化物场效应管 标准:半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法1042
检测项:稳态寿命试验 检测样品:功率金属氧化物场效应管 标准:半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法1042
机构所在地:陕西省西安市 更多相关信息>>
检测项:快速循环压力测试 检测样品:固态照明(SSL) 标准:单端紧凑型荧光灯寿命测试的改进方法 IES LM-65-01
检测项:快速循环压力测试 检测样品:固态照明(SSL) 标准:能源之星节能灯4.0版的高温试验(40%额定寿命)
检测项:光源寿命,光通维持率, 颜色维持 检测样品:固态照明(SSL) 标准:测量LED光源流明维持方法 IES LM-80-08
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:蓄电池寿命 检测样品:VRLA 蓄电池组在线诊断技术 要求和测试方法 标准:YDB 050—2010 VRLA蓄电池组在线诊断技术 要求和测试方法
检测项:蓄电池寿命 检测样品:通信用直流配电设备 标准:YD/T 585-2010 通信用配电设备
机构所在地:河南省郑州市 更多相关信息>>
检测项:寿命测试 检测样品:插座 标准:插头插座测试规范 AS/NZS 3112:2011+A1:2012+A2:2013
检测项:寿命测试 检测样品:卡口灯座 标准:卡口灯座 BS EN 61184-2008+A1-2011
检测项:寿命测试 检测样品:家用和类似用途固定电气安装电气附件安装盒和外壳 标准:家用和类似用途固定电气安装电气附件安装盒和外壳 第一部分:通用要求 BS EN 60670-1:2005
机构所在地:广东省惠州市 更多相关信息>>
检测项:性能测试 检测样品:自镇流荧光灯 标准:12.IESNA LM-40-2001 荧光灯寿命试验测试方法
检测项:性能测试 检测样品:自镇流荧光灯 标准:15.IESNA LM-65-01-2001 单端荧光灯寿命试验方法
检测项:部分项目 检测样品:消防接口 标准:消防接口 第1部分:消防接口通用技术条件GB12514.1-2005
机构所在地:福建省福州市 更多相关信息>>
检测项:加速寿命测试 检测样品:灯具 标准:灯具的光度测试和分布光度学 GB/T 22907-2008 CIE 121:1996
检测项:灯寿命 检测样品:自整流LED灯泡 标准:电压>50V的普通照明用LED灯泡-性能标准 IEC 62612:2013
检测项:移动通信手持机与附件的接口的寿命 检测样品:移动通信手持机 标准:移动通信手持机可靠性技术要求和测试方法 YD/T 1539-2006
检测项:WCDMA A-GPS 性能测试 检测样品:WCDMA数字蜂窝移动通信网终端设备 标准:UMTS;用户设备(UE)一致性规范; 第三部分: 抽象测试集 (ATS) ETSI TS 134 123-3
检测项:安全用户平面V1_0测试 检测样品:移动通信终端设备 标准:安全用户平面测试规范 OMA-ETS-SUPL-V1_0
检测项:高温贮存 检测样品:电子元器件试验 标准:微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法1008.1稳定性烘焙;半导体分立器件试验方法 GJB 128A-97方法1031高温寿命 电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法108高温寿命试验;
检测项:高温寿命(非工作) 检测样品:晶体管 标准:半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997
检测项:静态参数 检测样品:采样/保持放大器 标准:半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理 GB/T 14115-1993 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T 10735-1996;
机构所在地:湖北省孝感市 更多相关信息>>