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检测项:电源电流 检测样品:普通照明自镇流LED灯 标准:普通照明用50V以上自镇流LED灯 安全要求 GB 24906-2010 IEC 62560:2011 EN 62560:2012
检测项:输出电压和电流 检测样品:普通照明自镇流LED灯 标准:普通照明用50V以上自镇流LED灯 安全要求 GB 24906-2010 IEC 62560:2011 EN 62560:2012
检测项:基本电性能和电流谐波 检测样品:灯具光度 标准:普通照明用LED模块测试方法 GB/T 24824-2009 普通照明用LED模块性能要求 GB/T 24823-2009 IEC/PAS 62717-2011
机构所在地:广东省深圳市 更多相关信息>>
检测项:电流影响 检测样品:0.2级和0.5级静止式电能表 标准:ANSI C12.1-2008 电能表的电计量规范
检测项:电流回路的等效性 检测样品:0.2级和0.5级静止式电能表 标准:ANSI C12.1-2008 电能表的电计量规范
检测项:短时过电流影响试验 检测样品:1级和2级静止式交流有功电能表 标准:GB/T17215.321-2008 交流电测量设备 特殊要求 第21部分:静止式有功电能表(1级和2级)IEC62053-21:2003 交流电测量设备 特殊要求 第21部分:静止式有功电能表(1级和2级)
检测项:部分项目 检测样品:通信用室外光缆 标准:GB/T 7424.1-2003 光缆总规范 第1部分:总则
检测项:部分项目 检测样品:通信用室外光缆 标准:GB/T 7424.2-2008 光缆总规范 第2部分:光缆基本试验方法
检测项:部分项目 检测样品:沿电力线路敷设的光缆 标准:DL/T 832-2003 光纤复合架空地线
机构所在地:江苏省南通市 更多相关信息>>
检测项:输出低电流 检测样品:集成电路 标准:半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM
检测项:输出高电流 检测样品:集成电路 标准:半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM
检测项:低三态输出电流 检测样品:集成电路 标准:半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM
机构所在地:湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项:充电器要求 检测样品:移动通信手持机充电器 标准:移动通信手持机充电器及接口技术要求和试验方法 YD/T1591-2009
机构所在地:福建省厦门市 更多相关信息>>
检测项:硫化物应力开裂(SSC) 检测样品:铁磁材料 标准:用氯化铁溶液测定不锈钢和相关合金点腐蚀和缝隙腐蚀的试验方法 ASTM G48-11
检测项:部分项目 检测样品:锅炉、热交换器用不锈钢无缝钢管 标准:用氯化铁溶液测定不锈钢和相关合金点腐蚀和缝隙腐蚀的试验方法 ASTM G48-11
机构所在地:浙江省湖州市 更多相关信息>>
检测项:均匀腐蚀 检测样品:金属材料 标准:用氯化铁溶液测定不锈钢和相关合金耐点状腐蚀及隙间腐蚀的试验方法 ASTM G48-11
机构所在地:江苏省张家港市 更多相关信息>>
检测项:点腐蚀和缝隙腐蚀 检测样品:金属制品 覆盖层 标准:用氯化铁溶液测定不锈钢和相关合金点状腐蚀和缝隙腐蚀的试验方法 ASTM G48-11
机构所在地: 更多相关信息>>
检测项:谐波电流发射 检测样品:医用电气设备电磁兼容性(EMC) 标准:医用电气设备 第1-2部分:安全通用要求 并列标准:电磁兼容 要求和试验 YY0505-2012 医用电气设备 第1-2部分:基本安全和必要性能通用要求 并列标准:电磁兼
检测项:谐波电流发射 检测样品:体外诊断医疗设备电磁兼容性(EMC) 标准:测量、控制和实验室用的电设备 电磁兼容性要求 第1部分:通用要求 GB/T18268.1-2010 IEC61326-1:2005 测量、控制和实验室用的电设备 电磁兼容性要求 第26部分:特殊要求 体外诊断(IVD)医疗设备 GB/T1826
机构所在地:浙江省杭州市 更多相关信息>>
检测项:工频磁场抗扰度 检测样品:医用电气设备及体外诊断设备(电磁兼容) 标准:电磁兼容 限值 对额定电流≤16A的设备在低压供电系统中产生的电压波动和闪烁的限制 GB 17625.2-2007; 电磁兼容 试验和测量技术 静电放电抗扰度试验 GB/T 17626.2-2006;
检测项:电压暂降、短时中断和电压变化抗扰度 检测样品:医用电气设备及体外诊断设备(电磁兼容) 标准:电磁兼容 限值 对额定电流≤16A的设备在低压供电系统中产生的电压波动和闪烁的限制 GB 17625.2-2007; 电磁兼容 试验和测量技术 静电放电抗扰度试验 GB/T 17626.2-2006;
检测项:辐射的RF电磁场 检测样品:医用电气设备及体外诊断设备(电磁兼容) 标准:电磁兼容 限值 对额定电流≤16A的设备在低压供电系统中产生的电压波动和闪烁的限制 GB 17625.2-2007; 电磁兼容 试验和测量技术 静电放电抗扰度试验 GB/T 17626.2-2006;
机构所在地:北京市 更多相关信息>>