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血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述:通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。 血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途:与适配试剂配合使用,用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。 血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例:血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年08月07日
检测项:输出高电平电压VOH 检测样品:半导体集成 电路 (CMOS) 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
检测项:输出低电平电压VOL 检测样品:半导体集成 电路 (CMOS) 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
检测项:输出高阻态时高电平电流IOZH 检测样品:半导体集成 电路 (CMOS) 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:蓝牙输出功率TRM/CA/01/C 检测样品:蓝牙设备 标准:蓝牙射频测试规范 RF.TS/4.0.2
检测项:蓝牙输出频谱-频率范围TRM/CA/04/C 检测样品:蓝牙设备 标准:蓝牙射频测试规范 RF.TS/4.0.2
检测项:蓝牙输出频谱-临道功率TRM/CA/06/C 检测样品:蓝牙设备 标准:蓝牙射频测试规范 RF.TS/4.0.2
机构所在地:广东省深圳市 更多相关信息>>
检测项:最大输出功率 检测样品:GSM直放站 标准:《 900/1800 MHzTDMA数字蜂窝移动通信网直放站技术要求和测试方法》 YD/T 1337-2005
检测项:最大输出功率 检测样品:CDMA直放站 标准:《800MHz CDMA数字蜂窝移动通信网直放站技术要求和测试方法》 YD/T 1241—2002
检测项:发射机输出功率与突发脉冲定时 检测样品:900/1800MHz TDMA数字蜂窝移动通信网移动台 标准:《900/1800MHz TDMA数字蜂窝移动通信网通用分组无线业务(GPRS)设备测试方法:移动台》 YD/T 1215-2006
机构所在地:江苏省南京市 更多相关信息>>
检测项:报告输出 检测样品:入侵检测产品 标准:《信息安全技术 入侵检测系统技术要求和测试评价方法》GB/T 20275-2006
检测项:吞吐量测试 检测样品:以太网交换机 标准:《以太网交换机测试方法》 YD/T 1141-2007
检测项:交换机时延测试 检测样品:路由器 标准:《路由器设备测试方法 核心路由器》 YD/T 1156—2009
机构所在地:湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项:输入输出参数测试 检测样品:光伏逆变器 标准:UL1741:2010 用于分布式能源系统的逆变器、整流器、控制器和互联系统设备要求
检测项:输出过载测试 检测样品:光伏逆变器 标准:UL1741:2010 用于分布式能源系统的逆变器、整流器、控制器和互联系统设备要求
检测项:正弦波输出电压波形要求 检测样品:光伏逆变器 标准:IEC 62116:2008 并网光伏逆变器防孤岛测试方法
检测项:驱动轮输出功率测试 检测样品:摩托车和轻便摩托车 标准:《轻便摩托车燃油消耗量限值及测量方法》GB 16486-2008
检测项:驱动轮输出功率测试 检测样品:摩托车和轻便摩托车 标准:《摩托车和轻便摩托车整车性能台架试验方法》QC/T 60-2009
机构所在地:重庆市 更多相关信息>>
检测项:输出电压(VO) 检测样品:DC/DC变换器 标准:混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ20646-97
检测项:输出峰峰电压(VO+,VO-) 检测样品:半导体集成电路电压调整器 标准:半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理 GB/T4377-1996
检测项:输出电压 (VO) 检测样品:半导体集成电路电压调整器 标准:半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理 GB/T4377-1996
机构所在地:陕西省西安市 更多相关信息>>
检测项:输出高电平电压 检测样品:时基电路 标准:半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 SJ/T 10805-2000
检测项:输出低电平电压 检测样品:时基电路 标准:半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 SJ/T 10805-2000
检测项:高电平输出电流 检测样品:时基电路 标准:半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 SJ/T 10805-2000
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:输出共模 抑制比 检测样品:TTL电路 标准:SJ/T 10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:输出峰-峰值 检测样品:TTL电路 标准:SJ/T 10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:输出高电平电压 检测样品:电子产品、军用装备 标准:GB/T 2423.10-2008电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验 Fc:振动(正弦)
机构所在地:云南省昆明市 更多相关信息>>
检测项:输出功率不稳定度 检测样品:脉冲固体激光器 标准:GB/T 15175-2012固体激光器主要参数测试方法
检测项:输出能量 检测样品:半导体激光器 标准:SJ2749-1987 半导体激光二极管测试方法 SJ20957-2006 大功率半导体激光二极管阵列通用规范 GB/T 15175-2012 固体激光器主要参数测试方法
检测项:激光终端输出稳定度 检测样品:半导体激光器 标准:SJ2749-1987 半导体激光二极管测试方法 SJ20957-2006 大功率半导体激光二极管阵列通用规范 GB/T 15175-2012 固体激光器主要参数测试方法