官方微信
您当前的位置:首页 > 牺牲阳极输出电流测量
X射线管产品描述:X射线机的主要部件,通过施加在X射线管阴极和阳极之间的高电压,使阴极表面上的游离电子撞击阳极,产生X射线。通过控制加载时间和电压电流,达到不同的医疗诊断目的。 X射线管预期用途:装配于X射线管套内使用。 X射线管品名举例:固定阳极X射线管、旋转阳极X射线管 X射线管管理类别:Ⅱ X射线管相关标准: 1 .G...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年03月08日
检测项:高电平输出电流 检测样品:时基电路 标准:半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 SJ/T 10805-2000
检测项:低电平输出电流 检测样品:时基电路 标准:半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 SJ/T 10805-2000
检测项:输出电流 检测样品:DC/DC电源变换器 标准:混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:输出漏电流 检测样品:混合和固体延时继电器 标准:《混合和固体延时继电器总规范》 GJB1513A-2009
检测项:中等电流切换试验 检测样品:电子及电气元件 标准:《微电子器件试验方法》 GJB548B-2005
检测项:中等电流 检测样品:电磁继电器 标准:《电磁继电器通用规范》GJB1042A-2002
机构所在地:贵州省贵阳市 更多相关信息>>
检测项:输出电流和功率 检测样品:2类电源装置 标准:《2类电源装置》 UL 1310:2011
检测项:满负载输出电流 检测样品:2类电源装置 标准:《2类电源装置》 UL 1310:2011
检测项:最大输出电压 检测样品:2类电源装置 标准:《2类电源装置》 UL 1310:2011
机构所在地:广东省深圳市 更多相关信息>>
检测项:输出短路电流 检测样品:CMOS集成电路 标准:半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
检测项:输出高阻态时高电平电流 检测样品:CMOS集成电路 标准:半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
检测项:输出高阻态时低电平电流 检测样品:CMOS集成电路 标准:半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
机构所在地:重庆市 更多相关信息>>
检测项:输出漏电流 检测样品:延时继电器 标准:GJB1513-1992混合和固体延时继电器总规范4.7.7
检测项:线圈电流 检测样品:旋转开关 标准:GJB734A-2002旋转开关(电路选择器,小电流容量)通用规范4.6.13
检测项:中等电流 检测样品:按钮开关 标准:GJB974-1990多单元按钮开关总规范4.7.22
机构所在地:安徽省蚌埠市 更多相关信息>>
检测项:输出电流IO 检测样品:DC/DC转换器 标准:SJ 20646-1997 混合集成电路DC/DC变换器测试方法
检测项:输出高电平电流IOH 检测样品:模拟/混合集成电路 标准:GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 17940-2000半导体器件集成电路 第3部分 模拟集成电路 GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 14028-199
检测项:输出低电平电流IOL 检测样品:模拟/混合集成电路 标准:GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 17940-2000半导体器件集成电路 第3部分 模拟集成电路 GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 14028-199
机构所在地:河南省洛阳市 更多相关信息>>
检测项:输出电流限制 检测样品:锂电池/锂电芯 标准:CTIA对电池系统IEEE1725符合性的认证要求 Rev 2.1
检测项:输出电流限制 检测样品:锂电池/锂电芯 标准:CTIA对电池系统IEEE1725符合性的认证要求 Rev 2.5
检测项:传导输出功率 检测样品:电信设备 标准:联邦电子法规 类别47 电信类设备 第2部分 频率分配及约定 通用法规及规则 2.1046小节 射频功率输出测量要求FCC part 2.1046
检测项:输出短路电流 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
检测项:输出高电平电流 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
检测项:输出低电平电流 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
机构所在地:甘肃省兰州市 更多相关信息>>
检测项:输出短路电流 检测样品:模拟集成电路 标准:《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996
检测项:输出高阻态电流 检测样品:模拟集成电路 标准:《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996
检测项:输出短路电流IOS 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:输出高阻态时低电平电流IOZL 检测样品:DC/DC模块 标准:SJ20646-1997 混合集成电路DC/DC变换器测试方法
检测项:输出电流IO 检测样品:集成电路筛选 标准:微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005
机构所在地:湖南省长沙市 更多相关信息>>