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剪切强度(Shearstrength) 曾称抗剪强度，是指单位粘接面积上能够承受平行于粘接面积的最大载荷，常用的单位为MPa。 剪切强度 测试仪器：剪切强度测试仪 查看详情>>
剪切强度(Shearstrength)
曾称抗剪强度，是指单位粘接面积上能够承受平行于粘接面积的最大载荷，常用的单位为MPa。
剪切强度测试仪器：剪切强度测试仪
收起百科↑ 最近更新：2017年04月24日
检测项：电源电压抑制比 检测样品：时基电路 标准：半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T14030-1992
检测项：静态电源 电流 检测样品：混合集成电路 标准：膜集成电路和混合膜集成电路 总规范 GB/T8976-1996
检测项：电源电压灵敏度 检测样品：混合集成电路 标准：膜集成电路和混合膜集成电路 总规范 GB/T8976-1996
机构所在地：重庆市 更多相关信息>>
检测项：电源电流IDD 检测样品：ECL电路 标准：SJ/T10737-1996《半导体集成电路ECL电路测试方法的基本原理》
检测项：电源电压抑制比KSVR 检测样品：半导体集成电路TTL电路 标准：SJ/T10735-1996《半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理》
检测项：电源电流ICC 检测样品：半导体集成电路CMOS电路 标准：SJ/T10741-2000《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》
机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项：输出高电平电源电流 检测样品：CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项：输出低电平电源电流 检测样品：CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项：电源电压抑制比 检测样品：时基电路 标准：半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T 14030-1992
机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>
检测项：电源电流ICC 检测样品：半导体集成 电路 (TTL) 标准：半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996
检测项：输出低电平时电源电流ICCL 检测样品：半导体集成 电路 (TTL) 标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005
检测项：电源电流IDD 检测样品：半导体集成 电路 (CMOS) 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
机构所在地：北京市 更多相关信息>>
检测项：电源电压 抑制比 检测样品：TTL电路 标准：SJ/T 10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项：输入失调电流 检测样品：TTL电路 标准：SJ/T 10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项：输入偏置电流 检测样品：TTL电路 标准：SJ/T 10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
机构所在地：云南省昆明市 更多相关信息>>
检测项：电源电流 检测样品：ECL电路 标准：SJ/T10737-1996半导体集成电路ECL电路测试方法的基本原理
检测项：电源电流 检测样品：TTL电路 标准：SJ/T10735-1996半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项：电源电流 检测样品：电压调整器 标准：GB/T 4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理
机构所在地：江苏省南京市 更多相关信息>>
检测项：电源电压抑制比 检测样品：数字集成 电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
检测项：电源电流 检测样品：数字集成 电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
检测项：输入失调电压 检测样品：集成运放 电路 标准：半导体器件集成电路；第3部分：模拟集成电路 GB/T17940-2000
机构所在地：甘肃省兰州市 更多相关信息>>
检测项：电快速脉冲群抗扰度 检测样品：手机外部电源（EPS） 标准：电磁兼容性和射频频谱问题（ERM）；射频设备和服务的电磁兼容性（EMC）标准 第1部分；无线设备的电磁兼容性通用技术要求 ETSI EN 301 489-1 V1.9.2 (2011-09)无线通信设备电磁兼容性要求和 测量方法第34部分：手机外部电源（E
检测项：电源接口 检测样品：信息技术设备——安全——第1部分:一般要求 标准：GB 4943.1-2011 EN 60950-1:2006+A11:2009+ A1:2010+A12:2011 IEC 60950-1:2005+A1:2009
检测项：谐波和中间谐波,包括电源信号在交流电源口的低频抗扰度（EMC） 检测样品：电子电器设备 标准：电磁兼容性 试/验和测量技术 谐波和中间谐波,包括电源信号在交流电源口的低频抗扰性试验 GB/T17626.13-2006 EN 61000-4-13 :2002+A1:2009
机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>
检测项：直插式电源插头的机械强度试验 检测样品：信息技术设备(EMC) 标准：电磁兼容 试验和测量技术 浪涌(冲击)抗扰度试验 GB/T 17626.5-2008; IEC 61000-4-5:2005; EN 61000-4-5:2006;
检测项：抗电强度试验 检测样品：音频、视频及类似电子设备 标准：音频、视频及类似电子设备.安全要求 GB 8898-2011 EN 60065/A11:2008+A12:2011； IEC 60065:2001(seventh edition)+A1:2005+A2:2010； UL 60065, 7th Editio
检测项：部分项目 检测样品：*非接触式IC卡 标准：识别卡 无触点的集成电路卡 邻近式卡 第1部分:物理特性 GB/T 22351.1-2008
检测项：*部分项目 检测样品：非接触式IC卡 标准：识别卡-非接触式集成电路卡-临近卡-第一部分:物理特性 ISO/IEC 14443-1-2008 识别卡 物理特性 GB/T 14916-2006 识别卡 测试方法第1部分：一般特性测试 GB/T 17554.1-2006 城市轨道交通单程票非接触集
检测项：部分项目 检测样品：*非接触式IC卡 标准：识别卡-非接触式集成电路卡-临近卡-第一部分:物理特性 ISO/IEC 14443-1-2008 识别卡 物理特性 GB/T 14916-2006 识别卡 测试方法第1部分：一般特性测试 GB/T 17554.1-2006 城市轨道交通单程票非接触集
机构所在地：上海市 更多相关信息>>
