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血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述:通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。 血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途:与适配试剂配合使用,用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。 血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例:血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年08月07日
检测项:硫 检测样品:石油制品 燃油 标准:用能量分散X-射线荧光分光法对石油产品中硫含量的试验方法 ASTM D4294-2010
检测项:真空试验 检测样品:密封铅蓄电池 标准:联合国《关于危险货物运输的建议书》238条款
检测项:铅、镉、铬、汞、溴 检测样品:电子电气设备 标准:电子电气产品中铅、汞、镉、铬、溴的测定 第一部分:X射线荧光光谱定性筛选法 SN/T 2003.1-2005
机构所在地:天津市 更多相关信息>>
检测项:硫含量 检测样品:石油产品 标准:能量扩散X射线荧光光度法测定石油产品中硫含量的试验方法 ASTM D4294-10
检测项:馏程 检测样品:石油产品 标准:能量扩散X射线荧光光度法测定石油产品中硫含量的试验方法 ASTM D4294-10
检测项:硫含量 检测样品:石油产品 标准:石油和石油产品硫含量的测定 能量色散X射线荧光光谱法 GB/T 17040-2008
机构所在地:海南省海口市 更多相关信息>>
检测项:硫含量 检测样品:石油产品 标准:能量色散X射线荧光光谱法对石油产品中硫含量的试验方法 ISO 8754:2003
检测项:净热值和 总热量 检测样品:石油产品 标准:能量色散X射线荧光光谱法对石油产品中硫含量的试验方法 ISO 8754:2003
检测项:硫含量 检测样品:石油产品 标准:能量色散X射线荧光光谱法对石油产品中硫含量的试验方法 ASTM D4294-10
机构所在地:广东省广州市 更多相关信息>>
检测项:硫含量 检测样品:石油 产品 标准:能量分散X-射线荧光分光法对石油产品中硫含量的试验方法 ASTM D4294-10
检测项:活性硫 检测样品:石油 产品 标准:石油和石油产品硫含量的测定 能量色散X射线荧光光谱法 GB/T 17040-2008
检测项:水分离指数 检测样品:石油 产品 标准:用便携式仪器测定航空燃料的水分离特性的试验方法 ASTM D3948-13
机构所在地:广东省深圳市 更多相关信息>>
检测项:硫含量 检测样品:石油产品 标准:石油及石油产品中硫含量的标准试验方法(X-射线荧光光谱法) ASTM D4294-2010
检测项:Si 检测样品:镁铬砂 标准:X-射线荧光法定量 测定镁铬砂中的 Si、 Ca、Fe、Al、Cr、Ti LFBK-095
机构所在地:辽宁省大连市 更多相关信息>>
检测项:密度 检测样品:3号喷气燃料 标准:石油产品中硫含量的标准试验方法(能量色散X射线荧光光谱法)ASTM D4294-2010
检测项:硫含量 检测样品:3号喷气燃料 标准:石油和石油产品硫含量的测定(能量色散X射线荧光光谱法)GB/T17040-2008
检测项:硫含量 检测样品:汽油、柴油 标准:石油产品硫含量的测定(波长色散X射线荧光光谱法) GB/T11140-2008
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:锌层重量 检测样品:金属覆盖层 标准:用X-射线光谱法测量镀层重量的标准试验方法 ASTM B568-98(Re2004)
检测项:冲击试验 检测样品:金属覆盖层 标准:钢的显微组织评定方法GB/T 13299-1991
检测项:碳、硅、锰、磷、硫、铝、铜、铬、镍、钒、钛、铌 检测样品:钢铁与合金 标准:金属基体上金属和其他无机覆盖层经腐蚀试验后的试样和试件的评级 GB/T 6461-2002
机构所在地:江苏省南京市 更多相关信息>>
检测项:低倍组织 检测样品:金属材料(参数) 标准:钢的低倍组织及缺陷酸蚀检验方法 GB/T226-1991
检测项:氧 检测样品:金属材料(参数) 标准:钢铁 氧含量的测定 脉冲加热惰气熔融—红外线吸收法 GB/T 11261-2006
检测项:硫醇硫含量 检测样品:石油产品 标准:用能量色散X射线荧光光谱法测定石油和石油产品中硫的试验方法ASTM D4294-10
检测项:博士试验 检测样品:石油产品 标准:汽油、煤油、航空汽轮机燃料及馏出燃料中(硫醇态)硫含量的试验方法(电位法) ASTM D3227-04a(2010)
检测项:硫醇硫含量 检测样品:石油产品 标准:石油产品硫含量测定法(能量色散X射线荧光光谱法) GB/T 17040-2008
机构所在地: 更多相关信息>>
检测项:X射线检查 检测样品:印制板组装件焊点 标准:表面和混合安装印制电路板组装件的高可靠性焊接QJ3086-1999
检测项:X射线检查 检测样品:密封半导体集成电路 标准:军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027-2006
机构所在地:北京市 更多相关信息>>