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血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述:通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。 血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途:与适配试剂配合使用,用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。 血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例:血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年08月07日
检测项:回程误差 检测样品:数字温度指示调节仪 标准:《工业过程测量和控制系统用模拟输入数字式指示控制仪》GB/T13639-2008
检测项:指针偏转平稳性 检测样品:数字温度指示调节仪 标准:《工业过程测量和控制系统用模拟输入数字式指示控制仪》GB/T13639-2008
检测项:轻敲位移 检测样品:数字温度指示调节仪 标准:《工业过程测量和控制系统用模拟输入数字式指示控制仪》GB/T13639-2008
机构所在地:浙江省宁波市 更多相关信息>>
检测项:电源输入试验 检测样品:机电 产品 标准:飞机供电特性参数测试方法 第5.7供电瞬边特性的兼容性 GJB5189-2003
检测项:电源输入试验 检测样品:机电 产品 标准:机载设备环境条件和试验方法 第16部分-电源输入试验 RTCA/DO-160E、F
检测项:电源输入试验 检测样品:机电 产品 标准:飞机供电特性 GJB181A-2003
机构所在地:天津市 更多相关信息>>
检测项:输入电流测试 检测样品:微型计算机 标准:《信息技术设备 安全 第1部分:通用要求》GB4943.1-2011 条款1.6.2
检测项:电源端口传导发射骚扰试验 检测样品:微型计算机 标准:《电磁兼容 限值 谐波电流发射限值(设备每相输入电流≤16A)》 GB 17625.1-2012
检测项:通信端口传导发射骚扰试验 检测样品:微型计算机 标准:《电磁兼容 限值 谐波电流发射限值(设备每相输入电流≤16A)》 GB 17625.1-2012
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:输入低电平电压VIL 检测样品:半导体集成 电路 (CMOS) 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
检测项:输入正向阈值电压VIT+ 检测样品:半导体集成 电路 (CMOS) 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
检测项:输入高电平电流IIH 检测样品:半导体集成 电路 (CMOS) 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
检测项:线路输入电能量 检测样品:供电线路电能平衡测试 标准:不测220kV及以上超高压系统
检测项:企业用电体系功率因数 检测样品:供电线路电能平衡测试 标准:不测220kV及以上超高压系统
检测项:线路总输入电能量 检测样品: 标准:
检测项:输入/输出电压驻波比 检测样品:WCDMA移动通信网直放站 标准:《2GHz WCDMA数字蜂窝移动通信网直放站技术要求和测试方法》 YD/T 1554-2007
检测项:输入互调 检测样品:TD-SCDMA移动电话机 标准:《信息技术设备的无线电骚扰限值和测试方法》 GB9254-2008
检测项:输出互调 检测样品:微功率(短距离)无线电发射设备 标准:《电磁兼容性及无线频谱事务(ERM);频段处于25MHz至1GHz范围内的发射功率小于500 mW短距离微功率设备;第一部分:技术特点和测试方法》 ETSI EN 300 220-1 V2.2.1 (2008-04) 《电磁兼容性及无线频谱事务(ERM)
机构所在地:辽宁省沈阳市 更多相关信息>>
检测项:最大共模输入电压 检测样品:时基电路 标准:半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 SJ/T 10805-2000
检测项:开环差模输入电阻 检测样品:时基电路 标准:半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T 14030-1992
检测项:输入电流 检测样品:DC/DC电源变换器 标准:混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:电输入口允许频偏 检测样品:IP数据网 标准:YD/T 1381-2005 IP网络技术要求—网络性能测量方法
检测项:光输入口允许频偏 检测样品:SDH数字传输系统 标准:GB/T 16814-2008 同步数字体系(SDH)光缆线路系统测试方法
检测项:输出载波功率 检测样品:无线集群通信系统 标准:GB 12192-90 移动通信调频无线电话发射机测量方法
检测项:输入失调电流 检测样品:电压比较器 标准:SJ/T10805-2000半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
检测项:输入偏置电流 检测样品:电压比较器 标准:SJ/T10805-2000半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
检测项:输入高电平电流 检测样品:TTL电路 标准:SJ/T10735-1996半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
机构所在地:江苏省南京市 更多相关信息>>
检测项:共摸输入电压范围VIC 检测样品:混合集成电路A/D、D/A变换器 标准:SJ 20961-2006集成电路A/D、D/A转换器测试方法的基本原理
检测项:模拟输入电压VI 检测样品:混合集成电路A/D、D/A变换器 标准:SJ 20961-2006集成电路A/D、D/A转换器测试方法的基本原理
检测项:模拟输入电流AI 检测样品:混合集成电路A/D、D/A变换器 标准:SJ 20961-2006集成电路A/D、D/A转换器测试方法的基本原理
机构所在地:河南省洛阳市 更多相关信息>>