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牙挺产品描述:通常由手柄、杆和工作端组成。一般采用不锈钢材料制成。非无菌提供。 牙挺预期用途:用于撬松牙齿,撬除牙根、残根、碎根尖等。 牙挺品名举例:牙挺、丁字形牙挺、牙根尖挺、开冠挺、拔牙挺、微型牙挺、阻生齿牙挺 牙挺管理类别:Ⅰ 牙挺相关标准: 1、YY/T 1696-2020 牙科学 口内塑形刀 2、YY/T 9106...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年05月16日
检测项:输出高阻态时高电平电流 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项:输出高阻态时低电平电流 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
机构所在地:四川省成都市 更多相关信息>>
检测项:输出高阻态时低电平电流IOZL 检测样品:半导体集成 电路 (TTL) 标准:半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996
检测项:输出高阻态时高电平电流IOZH 检测样品:半导体集成 电路 (CMOS) 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
检测项:输出高阻态时低电平电流IOZL 检测样品:半导体集成 电路 (CMOS) 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:输出高阻态电流 检测样品:RF器件 标准:半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路 GB/T 17940-2000
检测项:输出高阻态电流 检测样品:CMOS集成电路 标准:半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 GB/T 17574-1998
检测项:输出高阻态电流 检测样品:FPGA现场可编程器件 标准:半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 GB/T 17574-1998
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:输出高阻态时高电平电流 检测样品:运算(电压)放大器 标准:半导体集成电路运算(电压)放大器 测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996
检测项:输出高阻态时高电平电流 检测样品:CMOS集成电路 标准:半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
检测项:输出高阻态时低电平电流 检测样品:CMOS集成电路 标准:半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
机构所在地:重庆市 更多相关信息>>
检测项:输出高阻态电流 检测样品:模拟集成电路 标准:《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996
检测项:输入高电平电流 检测样品:模拟集成电路 标准:《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996
检测项:输入失调电流 检测样品:模拟集成电路 标准:《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996
检测项:输出高阻态时低电平电流IOZL 检测样品:DC/DC模块 标准:SJ20646-1997 混合集成电路DC/DC变换器测试方法
检测项:输出高阻态时高电平电流IOZH 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
机构所在地:湖南省长沙市 更多相关信息>>
检测项:输出高阻态时高电平电流 检测样品:半导体集成电路CMOS电路 标准:微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005
机构所在地:陕西省西安市 更多相关信息>>
检测项:输入阻抗 检测样品:氧化锌避雷器测试仪 标准:《氧化锌避雷器阻性电流测试仪通用技术条件》 DL/T987-2005
检测项:阻性电流测量误差 检测样品:氧化锌避雷器测试仪 标准:《氧化锌避雷器阻性电流测试仪通用技术条件》 DL/T987-2005
检测项:全电流测量误差 检测样品:氧化锌避雷器测试仪 标准:《氧化锌避雷器阻性电流测试仪通用技术条件》 DL/T987-2005
机构所在地:湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项:输出高阻态时高电平电流IOZH 检测样品:半导体集成电路CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
检测项:输出高阻态时低电平电流IOZL 检测样品:半导体集成电路CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
检测项:输出高阻态时高电平电流IOZH 检测样品:微电子器件 标准:微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005
机构所在地:河南省郑州市 更多相关信息>>
检测项:输出高阻态时高电平电流IOZH 检测样品:半导体集成电路CMOS电路 标准:SJ/T10741-2000《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》
检测项:输出高阻态时低电平电流IOZL 检测样品:半导体集成电路CMOS电路 标准:SJ/T10741-2000《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》