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YY/T 1292.1-2015医疗器械生殖和发育毒性试验 第1部分:筛选试验 YY/T 1292.2-2015医疗器械生殖和发育毒性试验 第2部分:胚胎发育毒性试验 YY/T 1292.3-2016医疗器械生殖和发育毒性试验 第3部分:一代生殖毒性试验 YY/T 1292.4-2017医疗器械生殖和发育毒性试验 第4部分:两代生殖毒性试验 查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2022年04月19日
检测项:输出短路电流IOS 检测样品:ECL电路 标准:SJ/T10737-1996《半导体集成电路ECL电路测试方法的基本原理》
检测项:输出短路电流IOS 检测样品:半导体集成电路CMOS电路 标准:SJ/T10741-2000《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》
检测项:开路试验 检测样品:汽车及汽车内电子零部件 标准:ISO 16750-2:2010 《道路车辆 电气和电子设备的环境条件和试验第2部分:电力负载》
机构所在地:湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项:输出短路保护 检测样品:移动通信手持机充电器及接口 标准:移动通信终端电源适配器及充电/数据接口技术要求和 测试方法 YD/T1591-2009
检测项:输出短路保护 检测样品:移动通信手持机充电器及接口 标准:移动通信终端电源适配器及充电/数据接口技术要求和测试方法YD/T1591-2009
检测项:外接输出 检测样品:心电图机 标准:单道和多道心电图机 YY1139-2000
机构所在地:安徽省合肥市 更多相关信息>>
检测项:输出短路电流 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项:输出高低电平电压 检测样品:电子元器件 标准:微电路试验方法和程序GJB 548B-2005
检测项:输出高低电平电流 检测样品:电子元器件 标准:微电路试验方法和程序GJB 548B-2005
机构所在地:四川省成都市 更多相关信息>>
检测项:输出短路电流 检测样品:电子元器件 标准:微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006 方法3005.1
检测项:输出短路电流 检测样品:电子元器件 标准:微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006 方法3011.1
检测项:输出短路电流 检测样品:电子元器件 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000 第5.16条
机构所在地:江苏省无锡市 更多相关信息>>
检测项:输出端短路保护试验 检测样品:光伏逆变器 标准:CNCA/CTS 0004-2009A 并网光伏发电专用逆变器技术要求和试验方法
检测项:输出短路 检测样品:光伏逆变器 标准:CNCA/CTS0006-2010 光伏发电系统逆变器安全要求
检测项:输入输出短路测试 检测样品:光伏逆变器 标准:IEEE 1547:2003 发电系统接入电网的IEEE标准 IEEE 1547.1:2005 发电系统接入电网的IEEE标准--测试方法
机构所在地:江苏省南京市 更多相关信息>>
检测项:输出过流及短路保护 检测样品:通信用直流---直流变换设备 标准:通信用直流---直流变换设备 YD/T 637-2006
检测项:输出过流及短路保护 检测样品:通信用逆变设备 标准:通信用逆变设备 YD/T 777-2006
检测项:输出过流及短路保护 检测样品:电子电工产品 标准:电工电子产品环境试验第2部分:试验方法 试验A:低温 GB/T 2423.1-2008
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:输出短路电流 检测样品:CMOS集成电路 标准:半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 GB/T 17574-1998
检测项:输出短路电流 检测样品:RF器件 标准:半导体器件 集成电路 第2部分: 数字集成电路 GB/T 17574-1998
检测项:(运算放大器)短路输出电流 检测样品:CMOS集成电路 标准:半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路 GB/T 17940-2000
检测项:输出短路电流 检测样品:电压调整器 标准:GB/T 4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理
检测项:输出短路电流 检测样品:运算放大器 标准:SJ/T10738-1996半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理
检测项:小信号短路正向跨导 检测样品:场效应晶体管 标准:GB/T4586-1994半导体分立器件分立器件第8部分场效应晶体管
检测项:输出短路电流 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
检测项:输出高电平电压 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
检测项:输出低电平电压 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
机构所在地:甘肃省兰州市 更多相关信息>>
检测项:输出短路电流 检测样品:模拟集成电路 标准:《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996
检测项:输出高阻态电流 检测样品:模拟集成电路 标准:《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996