中国船舶重工集团第七0九研究所微电子测试校准实验室

检测项：输出低电平 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

检测项：高到低电平输出的传输延迟时间 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

检测项：三态转低电平输出时间 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

浙江省高低压电器产品质量检验中心

检测项：部分项目 检测样品：剩余电流动作继电器 标准：剩余电流动作继电器 GB/T 22387-2008

检测项：部分项目 检测样品：家用和类似用途的不带过电流保护的剩余电流动作断路器（RCCB) 标准：家用和类似用途的不带过电流保护的剩余电流动作断路器（RCCB) GB16916.1-2003 IEC 61008-1:2006

检测项：部分项目 检测样品：家用和类似用途的带过电流保护的剩余电流动作断路器（RCBO) 标准：家用和类似用途的带过电流保护的剩余电流动作断路器（RCBO) GB16917.1-2003 IEC 61009-1:2006

机构所在地：浙江省乐清市 更多相关信息>>

北京振兴计量测试研究所

检测项：输出低电平电压VOL 检测样品：DC/DC电源模块 标准：混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997

检测项：输出电流 检测样品： 标准：

检测项：输出电压 检测样品：电压 调整器 标准：GB/T4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法基本原理

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

陕西省电子技术研究所电子元器件检测筛选中心

检测项：输出低电平电压（VOL） 检测样品：半导体集成电路数字集成电路 标准：半导体器件 集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998

检测项：输入低电平电流（IIL） 检测样品：半导体集成电路数字集成电路 标准：半导体器件 集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998

检测项：输出短路电流(IOS) 检测样品：半导体集成电路数字集成电路 标准：半导体器件 集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998

机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>

南京中认南信检测技术有限公司

检测项：主要参数（输入：标称电压和电流，电压和电流范围、动态变化；输出：电压和电流、输出电压偏差，电流限制，负载特性；逆变效率） 检测样品：光伏系统 标准：GB/T 18479-2001 地面用光伏(PV)发电系统概述和导则

检测项：输出电流 检测样品：用于电站的电气设备 标准：IEC 62103:2003/EN 50178:1997 用于电站的电气设备

检测项：无功电源 检测样品：单路输出式交流-直流和交流-交流外部电源 标准：单路输出式交流-直流和交流-交流外 部电源能效限定值及节能评价值 GB 20943-2007

机构所在地：江苏省南京市 更多相关信息>>

中国航空无线电电子研究所元器件检测中心

检测项：输入低电平电流 检测样品：数字集成电路 标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17574-1998 半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路

检测项：输入低电平电流 检测样品：模拟集成电路 标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压

检测项：输出短路电流 检测样品：数字集成电路 标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17574-1998 半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第四十研究所质量监督检验中心

检测项：电过负荷、电耐久性、中等电流、低电平寿命和温升 检测样品：钮子开关 标准：GJB1315-1991可靠断路钮子开关总规范4.7.6

检测项：电过负荷、电耐久性、中等电流、低电平寿命和温升 检测样品：钮子开关 标准：GJB2450-1995非密封钮子开关总规范4.8.6

检测项：电过负荷、电耐久性、中等电流、低电平寿命和温升 检测样品：钮子开关 标准：GJB735-1989密封钮子开关总规范4.7.14

机构所在地：安徽省蚌埠市 更多相关信息>>

上海无线电设备研究所环境与检测实验室

检测项：输入低电平电流 检测样品：TTL电路、COMS电路 标准：《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996 《半导体集成电路第2部分:数字集成电路第Ⅳ篇第

检测项：输出短路电流 检测样品：模拟集成电路 标准：《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996

检测项：输出高阻态电流 检测样品：模拟集成电路 标准：《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

中航光电科技股份有限公司试验检测中心

检测项：低电平接触电阻 检测样品：电连接器 标准：GJB1217A-2009 电连接器试验方法/3002

机构所在地：河南省洛阳市 更多相关信息>>

北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司

检测项：输出低电平电压Vol 检测样品：半导体集成电路（稳压器） 标准：1.GB/T 4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法基本原理 2.GB/T 4589.1-2006半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范

检测项：输出低电平VOL 检测样品：半导体集成电路（数字集成电路） 标准：1.SJ/T 10741-2000 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理 2.GB/T 17574-1998半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 第IV篇 3.GB/T 16464-1996半导体器件 集成电路 第

检测项：低电平输入电流IIL 检测样品：半导体集成电路（数字集成电路） 标准：1.SJ/T 10741-2000 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理 2.GB/T 17574-1998半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 第IV篇 3.GB/T 16464-1996半导体器件 集成电路 第

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