部件及集成测试检测实验

血糖及血糖相关参数分析仪器

简介

血糖及血糖相关参数分析仪器

简介

血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述：通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。

血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途：与适配试剂配合使用，用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。

血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例：血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血脂监测仪、血糖血酮仪、血酮体测试仪、葡萄糖/乳酸分析仪、尿酸/血糖分析仪、血脂/血糖分析仪、血糖/胆固醇两用检测仪、血糖/胆固醇/甘油三酯/乳酸分析仪、血脂分析仪

血糖及血糖相关参数分析仪器管理类别：Ⅱ

血糖及血糖相关参数分析仪器相关指导原则：
1、血糖仪注册技术审查指导原则
2、自测用血糖监测系统注册申报资料指导原则

血糖及血糖相关参数分析仪器相关标准：
1、YY/T 1549-2017 生化分析仪用校准物下载2、YY/T 1662-2019 生化分析仪用质控物

血糖及血糖相关参数分析仪器相关检测项目：
1 . 外观《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
2 . 血糖仪和血糖试条测量重复性《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
3 . 血糖仪和血糖试条系统准确度《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
4 . 红细胞压积《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
5 . 血糖试条批间差《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
6 . 质控物质《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
7 . 血糖仪环境试验《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
8 . 血糖仪安全要求《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》

收起百科↑ 最近更新：2023年08月07日

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通标标准技术服务有限公司南京分公司检测中心

检测项：小部件检测样品：服装配件标准：小部件测试16 CFR Part 1501:1991

检测项：小部件检测样品：服装配件标准：附件强力测试ASTM F963-2011

检测项：小部件检测样品：服装配件标准：揿扭的分力测试方法ASTM D4846-1996（R2011）

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宁波双林汽车部件股份有限公司中心实验室

检测项：温度/湿度试验检测样品：塑料及制品标准：塑料部件抗湿性测试方法 NES M0153-1994

检测项：落锤冲击检测样品：橡胶及制品标准：塑料和橡胶部件冲击强度（落锤法） D42 1235-2008

检测项：玻璃化转变温度检测样品：塑料及制品标准：增强树脂灼烧损失的测试方法 ASTM D2584-2011

机构所在地：浙江省宁波市更多相关信息>>

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通标标准技术服务有限公司常州分公司检测中心

检测项：小部件检测样品：儿童服装配件标准：16 CFR 1501 儿童小部件安全测试

检测项：尖锐点、锐边检测样品：儿童服装配件标准：ASTM F963-2011　 Clause 4.6 儿童玩具小部件安全测试

检测项：尖锐点、锐边检测样品：儿童服装配件标准：16 CFR 1500.48、49 儿童玩具、部件尖锐点、锐边测试

机构所在地：江苏省常州市更多相关信息>>

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国家信息技术安全研究中心信息安全特种技术检测实验室

检测项：自身安全检测样品：网闸隔离部件产品标准：GB/T 20277-2006《信息安全技术网络和终端设备隔离部件测试评价方法》

检测项：访问控制检测样品：网闸隔离部件产品标准：GB/T 20277-2006《信息安全技术网络和终端设备隔离部件测试评价方法》

检测项：标记检测样品：网闸隔离部件产品标准：GB/T 20277-2006《信息安全技术网络和终端设备隔离部件测试评价方法》

机构所在地：北京市更多相关信息>>

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中国电子科技集团公司第十三研究所检测中心

检测项：输出漏电流Iol 检测样品：半导体集成电路（稳压器）标准：1、GB/T 4589.1-2006 半导体器件第10部分：分立器件和集成电路总规范 2、GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法基本原理

检测项：正电源电流Is+ 检测样品：半导体集成电路（稳压器）标准：1、GB/T 4589.1-2006 半导体器件第10部分：分立器件和集成电路总规范 2、GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法基本原理

检测项：负电源电流Is- 检测样品：半导体集成电路（稳压器）标准：1、GB/T 4589.1-2006 半导体器件第10部分：分立器件和集成电路总规范 2、GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法基本原理

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欧陆检测技术服务（上海）有限公司

检测项：物理和机械性能检测样品：玩具和儿童用品标准：8.5 正常使用， 8.6 滥用测试， 8.7 冲击测试， 8.8 部件移除的扭力测试， 8.9 部件移除的拉力测试， 8.10 压力测试， 8.11 轮胎移除试验和咬接式轮轴组合的试验， 8.12 挠曲测试， 8.14 弹射玩具测试，

检测项：机械和物理性能检测样品：玩具和儿童用品标准：8.8 部件移除的扭力测试，

检测项：机械和物理性能检测样品：玩具和儿童用品标准：8.9 部件移除的拉力测试，

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中国电子科技集团公司第二十七研究所计量检测中心

检测项：电压调整率SV 检测样品：半导体集成电路TTL电路标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996

检测项：电流调整率SI 检测样品：半导体集成电路TTL电路标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996

检测项：消耗电流ID 检测样品：半导体集成电路TTL电路标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996

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中科华核电技术研究院有限公司核安全电气设备鉴定检测中心

检测项：电流传输比检测样品：半导体集成电路电压调整器标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理GB/T 4377-1996

检测项：输出电压调整率检测样品：半导体集成电路电压调整器标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理GB/T 4377-1996

检测项：输出电压调整率检测样品：半导体集成电路电压调整器标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理GB/T 4377-1996

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云南昆船电子设备有限公司蓝海综合实验中心

检测项：集电极-基极击穿电压检测样品：半导体集成运算放大器标准：SJ/T 10738-1996 半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理

检测项：输入失调电压检测样品：半导体集成运算放大器标准：SJ/T 10738-1996 半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理

检测项：输入钳位电压检测样品：TTL电路标准：SJ/T 10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

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优联（上海）检测有限公司

检测项：机械和物理性能检测样品：玩具和儿童用品标准：8.5正常使用， 8.6滥用测试， 8.7冲击测试， 8.8部件移除的扭力测试， 8.9部件移除的拉力测试， 8.10 压力测试， 8.11 轮胎移除试验和咬接式轮轴组合的试验， 8.12 挠曲测试

检测项：机械和物理性能检测样品：玩具和儿童用品标准：美国联邦法令第16部分 CPSC 16CFR 玩具的警告标识1500.19 尖端测试 1500.48 利边测试1500.49 正常和滥用测试 1500.50～53 标识要求 1500.121 小部件测试 1501

检测项：氙灯老化检测样品：汽车材料标准：氙弧老化测试-高温下人造光老化及色牢度 EN ISO 105-B06:2004

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血糖及血糖相关参数分析仪器

简介

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宁波双林汽车部件股份有限公司中心实验室

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国家信息技术安全研究中心信息安全特种技术检测实验室

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中国电子科技集团公司第二十七研究所计量检测中心

中科华核电技术研究院有限公司核安全电气设备鉴定检测中心

云南昆船电子设备有限公司蓝海综合实验中心

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