您当前的位置:首页 > 键合强度(破坏性键合拉力试验)
血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述:通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。 血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途:与适配试剂配合使用,用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。 血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例:血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年08月07日
检测项:体外皮肤致敏性:ARE-Nrf2荧光素酶LuSens试验 检测样品:化妆品 标准:OECDTG442D(2022)附件IB 体外皮肤致敏性:ARE-Nrf2荧光素酶LuSens试验
检测机构:国家食品质量监督检验中心 更多相关信息>>
检测项:物理尺寸 检测样品:电工电子产品、军用设备、电子及电气元件、 半导体分立器件、微电子器件 标准:微电子器件试验方法 方法2011.1键和强度(破坏性键和拉力试验) GJB548B-2005
检测项:键和强度 检测样品:电工电子产品、军用设备、电子及电气元件、 半导体分立器件、微电子器件 标准:半导体分立器件试验方法 方法2037 键和强度试验 GJB128A-1997
检测项:物理尺寸 检测样品:电工电子产品、军用设备、电子及电气元件、 半导体分立器件、微电子器件 标准:微电子器件试验方法 方法2023.2非破坏性键和拉力试验 GJB548B-2005
机构所在地:北京市
检测项:键合强度 检测样品:电子元器件 标准:GJB128A-1997 《半导体分立器件试验方法》
检测项:键合强度 检测样品:电子元器件 标准:GJB548B-2005 《微电子器件试验方法和程序》
检测项:键合强度 检测样品:电子元器件 标准:GJB128A-1997 《半导体分立器件试验方法》
机构所在地:北京市
检测项:键合强度测试 检测样品:半导体分立器件失效分析 标准:GJB 3157-1998 半导体分立器件失效分析方法和程序
检测项:键合强度测试 检测样品:半导体分立器件失效分析 标准:GJB 3157-1998 半导体分立器件失效分析方法和程序
机构所在地:河北省石家庄市
检测项:键合强度 检测样品:电子元器件 标准:微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996 方法2011A、2023A
检测项:键合强度 检测样品:混合 集成电路外壳 标准:混合集成电路外壳总规范 GJB2440A-2006
机构所在地:江苏省无锡市