您当前的位置:首页 > 镀模要求的检验
血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述:通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。 血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途:与适配试剂配合使用,用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。 血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例:血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年08月07日
检测项:后备保护性能检验 检测样品:自动控制装置 标准:输电线路保护装置通用技术条件GB/T 15145-2008;电力系统继电保护产品动模试验 GB/T 26864-2011
机构所在地:辽宁省沈阳市
检测项:共模抑制比 检测样品:半导体集成电路电压比较器 标准:GB/T6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
检测项:共模抑制比 检测样品:半导体集成电路电压比较器 标准:GB/T6798-1996 《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》
检测项:振动试验 检测样品:医用电器 标准:GB/T 14710-2009 《医用电器环境要求及试验方法》 额定工作湿热试验
机构所在地:江苏省连云港市
检测项:射频共模 检测样品:电子、电气设备 标准:电磁兼容 通用标准 居住、商业和轻工业环境中的发射标准 GB 17799.3-2001 IEC 61000-6-3:1996
检测项:共模抑制比 检测样品:时基 电路 标准:半导体集成电路 时基电路 测试方法的基本原理GB/T14030-1992 第2.1、2.2、2.3、2.4、2.6、2.7、2.8条
检测项:射频共模 检测样品:电子、电气设备 标准:电磁兼容 通用标准 居住、商业和轻工业环境中的抗扰度试验 GB/T 17799.1-1999 IEC 61000-6-1:1997 电磁兼容 通
机构所在地:四川省成都市
检测项:共模抑制比KCMR 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996《半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理》
检测项:电压尖峰 检测样品: 标准:GJB181-1986《飞机供电特性及对用电设备的要求》
机构所在地:湖北省武汉市