限流电路测试检测实验

血糖及血糖相关参数分析仪器

简介

血糖及血糖相关参数分析仪器

简介

血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述：通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。

血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途：与适配试剂配合使用，用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。

血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例：血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血脂监测仪、血糖血酮仪、血酮体测试仪、葡萄糖/乳酸分析仪、尿酸/血糖分析仪、血脂/血糖分析仪、血糖/胆固醇两用检测仪、血糖/胆固醇/甘油三酯/乳酸分析仪、血脂分析仪

血糖及血糖相关参数分析仪器管理类别：Ⅱ

血糖及血糖相关参数分析仪器相关指导原则：
1、血糖仪注册技术审查指导原则
2、自测用血糖监测系统注册申报资料指导原则

血糖及血糖相关参数分析仪器相关标准：
1、YY/T 1549-2017 生化分析仪用校准物下载2、YY/T 1662-2019 生化分析仪用质控物

血糖及血糖相关参数分析仪器相关检测项目：
1 . 外观《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
2 . 血糖仪和血糖试条测量重复性《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
3 . 血糖仪和血糖试条系统准确度《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
4 . 红细胞压积《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
5 . 血糖试条批间差《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
6 . 质控物质《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
7 . 血糖仪环境试验《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
8 . 血糖仪安全要求《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》

收起百科↑ 最近更新：2023年08月07日

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大连市锅炉压力容器检验研究院

检测项：限流装置的限流性试验检测样品：气瓶瓶阀标准：续上页： ISO15500-14:2002《公路车辆—压缩天然气燃料系统元件—第14部

检测项：限流装置的限流性试验检测样品：气瓶瓶阀标准：TSGRF001-2009《气瓶附件安全技术监察规程》 GB17926-2009《车用压缩天然气瓶阀》 GB7512-2006《液化石油气瓶阀》 GB10877-2009《氧气瓶阀》 GB10879-2

检测项：静态蒸发率测试检测样品：焊接绝热气瓶标准：GB24159-2009《焊接绝热气瓶》 DOT178.57 《4L焊接绝热气瓶规范》

机构所在地：辽宁省大连市更多相关信息>>

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国家高电压计量站

检测项：环境试验检测样品：直流电阻测试仪标准：《电阻测量装置通用技术条件第3部分：直流电阻测试仪》 DL/T845.3-2004

检测项：电源适应性检测样品：直流电阻测试仪标准：《电阻测量装置通用技术条件第3部分：直流电阻测试仪》 DL/T845.3-2004

检测项：性能要求检测样品：直流电阻测试仪标准：《电阻测量装置通用技术条件第3部分：直流电阻测试仪》 DL/T845.3-2004

机构所在地：湖北省武汉市更多相关信息>>

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国网计量中心

检测项：绝缘电阻检测样品：直流电阻测试仪标准：电阻测量装置通用技术条件第3部分：直流电阻测试仪 DL/T 845.3-2004

检测项：稳定性检测样品：直流电阻测试仪标准：电阻测量装置通用技术条件第3部分：直流电阻测试仪 DL/T 845.3-2004

检测项：外观及通电检查检测样品：直流电阻测试仪标准：电阻测量装置通用技术条件第3部分：直流电阻测试仪 DL/T 845.3-2004

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宜昌测试技术研究所（中国船舶重工集团公司第七一0研究所）环境可靠性及电磁兼容检测实验室

检测项：输出高电平电压检测样品：半导体集成电路TTL电路标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

检测项：输出低电平电压检测样品：半导体集成电路TTL电路标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

检测项：输入电流检测样品：半导体集成电路TTL电路标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

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深圳天祥质量技术服务有限公司科技园经营部

检测项：附录检测样品：信息技术设备标准：信息技术设备 - 安全 - 第1部分: 通用要求 IEC 60950-1: 2005 + A1: 2009； EN 60950-1:2006 + A11: 2009 + A1: 2010 + A12: 2011 AS/NZS

检测项：交流电压波动检测样品：安防器材设备标准：警报系统.电磁兼容性.产品类标准防火、防入侵者和社交性报警系统元件的抗干扰要求 EN 50130-4: 1995+A1+A2 EN 50130-4: 2011

检测项：交流电压跌落和短时中断检测样品：信息技术设备标准：信息技术设备的无线电骚扰限值和测量方法 AS/NZS CISPR22:2009 AS/NZS CISPR22:2009 + A1 GB9254-2008

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武汉中原电子集团有限公司计量检测中心

检测项：输入失调电流检测样品：CMOS电路标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

检测项：输入偏置电流检测样品：CMOS电路标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

检测项：开环电压增益检测样品：CMOS电路标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

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中国船舶重工集团公司第723研究所电工电子设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：输出漏电流检测样品：时基电路标准：《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》GB/T 14030-1992

检测项：静态功耗检测样品：时基电路标准：《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》GB/T 14030-1992

检测项：触发电流检测样品：时基电路标准：《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》GB/T 14030-1992

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中国航空综合技术研究所航空综合环境航空科技重点实验室

检测项：内部观测特征检测样品：数字集成电路标准：SJ/T10741-2000 《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》

检测项：输入高电平电压VIH 检测样品：数字集成电路标准：SJ/T10741-2000 《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》

检测项：输入低电平电压VIL 检测样品：数字集成电路标准：SJ/T10741-2000 《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》

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中国电子科技集团公司第十三研究所检测中心

检测项：正向电压VF 检测样品：微电路模块标准：1、SJ 20668-1998 微电路模块总规范 2、SJ 20645-1997 微波电路放大器测试方法

检测项：功率增益GP 检测样品：微电路模块标准：1、SJ 20668-1998 微电路模块总规范 2、SJ 20645-1997 微波电路放大器测试方法

检测项：增益控制范围检测样品：微电路模块标准：1、SJ 20668-1998 微电路模块总规范 2、SJ 20645-1997 微波电路放大器测试方法

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中国电子科技集团公司第二十四研究所质检中心

检测项：电源电压抑制比检测样品：时基电路标准：半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T14030-1992

检测项：最大差模输入电压检测样品：时基电路标准：半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T14030-1992

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