医疗器械中电磁兼容传导骚扰、辐射骚扰的检测

检测项：电磁兼容传导骚扰、辐射骚扰 检测样品：医疗器械 标准：GB17743-2016 电气照明和类似设备的无线电骚扰特性的限制和测量方法

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食品接触材料和容器中感官指标的检测

检测项：感官指标 检测样品：食品接触材料和容器 标准：GB 4804-1984

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油品中ICP 光谱元素分析的检测

检测项：ICP 光谱元素分析 检测样品：油品 标准：ASTM D5708-12 感应耦合等离子体(ICP)原子发射光谱法测定原油和残留燃油中的镍,钒和铁的标准试验方法

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物种鉴定中霉菌鉴定的检测

检测项：霉菌鉴定 检测样品：物种鉴定 标准：真菌鉴定程序MS（i）/C006-C01（①《真菌鉴定手册》魏景超遗著 上海科学技术出版社②《真菌的形态和分类》戴芳澜遗著 科学出版社③GB/T 4789.16-2003④《中国真菌志》（曲霉及其相关有性型） 科学出版社 1997⑤ Biolog 鉴定系统

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电缆及附件试验方法中外型尺寸和椭圆度的检测

检测项：外型尺寸和椭圆度 检测样品：电缆及附件试验方法 标准：EN 50396：2005+A1：2011《低压电力电缆非电气试验方法》

检测机构：国家电线电缆质量监督检验中心 更多相关信息>>

复合材料中非泡沫塑料密度的检测

检测项：非泡沫塑料密度 检测样品：复合材料 标准：ISO1183-1:2012《塑料 非泡沫塑料的密度测定方法 第1部分:浸渍法、液体比重瓶法和滴定法》

检测机构：玻璃钢制品质量检验中心 更多相关信息>>

食品中苯佐卡因的检测

检测项：苯佐卡因 检测样品：食品 标准：BJS202209 食品中双醋酚丁等19种化合物的测定

检测机构：国家食品质量监督检验中心 更多相关信息>>

中国物品编码中心自动识别技术检验实验室

检测项：非接触IC卡邻近卡fc/64,fc/32,fc/16位速率的初始化和防碰撞 检测样品：集成电路(IC)卡 标准：ISO/IEC 14443-3:2001/ Amd.1:2005 识别卡－非接触集成电路卡－邻近卡－第3部分：初始化和防碰撞 补充版1：fc/64，fc/32和fc/16位速率

检测项：fc/64，fc/32和fc/16位速率 检测样品：射频识别标签 标准：ISO/IEC 14443-3:2001/ Amd.1:2005 识别卡－非接触集成电路卡－邻近卡－第3部分：初始化和防碰撞 补充版1：fc/64，fc/32和fc/16位速率

检测项：fc/64，fc/32和fc/16位速率 检测样品：射频识别标签芯片 标准：ISO/IEC 14443-3:2001/ Amd.1:2005 识别卡－非接触集成电路卡－邻近卡－第3部分：初始化和防碰撞 补充版1：fc/64，fc/32和fc/16位速率

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

上海市计量测试技术研究院（华东国家计量测试中心/中国上海测试中心）

检测项：*部分项目 检测样品：非接触式IC卡 标准：识别卡 无触点集成电路卡 接近卡 第2部分：无线电频率和信号界面 ISO/IEC 14443-2-2010 城市公共交通非接触式集成电路（IC卡） 第一部分 卡的特性 DB31/239.1-2000 城市轨道交通单程票非接触集成电路IC卡通用技术规

检测项：部分项目 检测样品：*非接触式IC卡 标准：识别卡 无触点集成电路卡 接近卡 第2部分：无线电频率和信号界面 ISO/IEC 14443-2-2010 城市公共交通非接触式集成电路（IC卡） 第一部分 卡的特性 DB31/239.1-2000 城市轨道交通单程票非接触集成电路IC卡通用技术规

检测项：部分项目 检测样品：*非接触式IC卡 标准：识别卡 无触点的集成电路卡 邻近式卡 第1部分:物理特性 GB/T 22351.1-2008

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

北京尊冠科技有限公司

检测项：非接触卡测试方法 检测样品：IC卡 标准：ISO/IEC10373-6:2011（E） 识别卡－测试方法－第6部分：邻近卡 ISO/IEC10373-6:2001/Amd.7:2010（E） 识别卡－测试方法－第6部分：邻近卡 补充版7：电子护照测试方法

检测项：非接触卡电信号和传输协议 检测样品：IC卡 标准：ISO/IEC 10536-3：1996 识别卡-非接触集成电路卡-耦合卡 第三部分：电信号和复位规程 ISO/IEC 15693-2：2006 识别卡-非接触集成电路卡-近距离卡 第二部分：空中接口和初始化 ISO/IEC 15693-3：2009 识别

检测项：非接触IC卡物理特性 检测样品：IC卡 标准：ISO/IEC14443-1：2008 识别卡-无触点集成电路卡-邻近卡.第1部分:物理特性 ISO/IEC10536-1 2000 非接触集成电路卡 近耦合卡-第1部分:物理特性

机构所在地：北京市 更多相关信息>>