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检测项:输出短路电流 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法 的基本原理
检测项:输出短路电流 检测样品:半导体集成电路CMOS电路 标准:SJ/T 10741-2000 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理
检测项:输出短路电流 检测样品:光电耦合器 标准:GB/T15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路第5-3部分 SJ 2215-8
机构所在地:湖北省宜昌市
机构所在地:广东省惠州市
检测项:温度限制和防火 检测样品:钳形电流表 标准:(7)GB 4793.1-2007《测量、控制和试验室用设备的安全要求 第一部分:通用要求》 (8
机构所在地:黑龙江省哈尔滨市
检测项:用8/20冲击电流测限制电压 检测样品:电涌保护器(SPD) 标准:《低压配电系统的电涌保护器(SPD)第1部分:性能要求和试验方法》 GB 18802.1-2002
检测项:用复合波测量限制电压 检测样品:电涌保护器(SPD) 标准:《低压配电系统的电涌保护器(SPD)第1部分:性能要求和试验方法》 GB 18802.1-2002
检测项:用复合波测量限制电压 检测样品:低压电涌保护器(SPD) 标准:《低压电涌保护器(SPD)第1部分:低压配电系统的电涌保护器性能要求和试验方法》GB 18802.1-2011
机构所在地:山东省青岛市